База ответов ИНТУИТ

Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств

<<- Назад к вопросам

Целесообразно ли при поиске единой маски или множества индивидуальных масок с помощью жадных алгоритмов 1 или 2, описанных в лекциях 31 и 32, к исходной ДИ, представленной в виде СПР, применять какие-либо методы ее предварительного сокращения (к примеру, преобразования СПР в таблицу неисправностей)? Дайте обоснование любого варианта вашего ответа.

(Отметьте один правильный вариант ответа.)
Варианты ответа
Нет, поскольку применение предварительного сокращения исходной ДИ требует дополнительных временных затрат. Вместе с тем результат применения жадных алгоритмов как к исходной, так и к сокращенной ДИ, может отличаться столь незначительно, что не оправдает упомянутых предварительных временных затрат.
Да, поскольку предварительное сокращение ДИ может быть весьма существенным и, следовательно, можно ожидать значительного эффекта (как по качеству, так и по времени поиска) при поиске масок для ДИ меньшего объема. Этот вывод подтверждается анализом экспериментальных данных, приведенных в лекции 33. (Верный ответ)
Похожие вопросы
Статистические данные, полученные в результате экспериментов, показывают, что эффективность сокращения ДИ с помощью хеш-функций в среднем в пять раз выше, чем сокращение с помощью масок. Вместе с тем применение хеш-функций при диагностировании ЦУ в технологическом процессе производства может привести к его замедлению. Назовите возможные причины такого замедления.
Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\} - множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска индивидуальных масок, изложенный в лекции 32, найти для заданного СПР множество индивидуальных масок минимального суммарного объема. Решить задачу для СПР, заданного табл.
T_1T_2T_3T_4
s_001100100
s_100010010
s_200001011
s_301001010
s_411011110
s_510001010
s_610011101
s_710001110
s_801000110
Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\} - множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска индивидуальных масок, изложенный в лекции 32, найти для заданного СПР множество индивидуальных масок минимального суммарного объема. Решить задачу для СПР, заданного табл.
T_1T_2T_3T_4
s_010011110
s_110101110
s_200111110
s_300000011
s_401001010
s_501000110
s_601000100
s_710001010
s_811111110
Представленная ниже таблица - словарь полной реакции (СПР) некоторого ЦУ на тест T_1,T_2,T_3,T_4 Пусть S- разбиение множества состояний ЦУ (s_0- исправное ЦУ, s_i- ЦУ с i-ой неисправностью), а s_j- элементы этого разбиения. Каждому состоянию S_jсоответствует маска h_j, и пусть H- множество всех масок h_j Предполагается, что каждое S_jсодержит одно состояние s_jТребуется построить СПР_Ндля различных типов масок (общих и индивидуальных) при заданном множестве H
T_1T_2T_3T_4
s_011001110
s_110101110
s_200001110
s_300000010
s_401000010
s_501000110
s_601000100
s_710001010
s_811111110
Построить СПР_Н, где множество Hсодержит следующие маски:h_0=h_1=\{1:1,2:1,3:1,4:2\},h_2=\{2:2,4:1\},h_3=h_4=h_5=\{3:2,4:1\},h_6=\{1:2,3:2,4:2\},h_7=\{3:2\},h_8=\{1:2,2:1,4:1\}
Чему соответствует в схеме список неисправностей в дедуктивном методе моделирования неисправностей?
Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена на рисунке, помещенном ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111 Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
\pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
00000001010101010000000111111101
Требуется построить таблицу ТФН. В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество F=\{f_4,f_5,f_6\} Здесь f_4- Const 1 на выходе 7, f_5- Const 0 на выходе 8, f_6- Const 0 на выходе 9. В качестве теста использовать последовательность \pi_{10}, \pi_{11} Для множества F требуется построить таблицу Т-ТФН.
Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111 Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
\pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
00000001010101010000000111111101
Требуется построить таблицу ТФН. В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество F=\{f_1,f_2,f_3\} Здесь f_1- Const 1 на входе 3, f_2- Const 1 на входе 2, f_3- Const 0 на входе 2. В качестве теста использовать последовательность \pi_{10}, \pi_{11}Для множества F требуется построить таблицу Т-ТФН.
В таблице
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 5.
В таблице
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р = 3 и r = 3.
В таблице
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 3.