База ответов ИНТУИТ

Инструктивный синтез нанометровых вычислительных структур. От элементной базы к алгоритмически ориентированным субпроцессорам.

<<- Назад к вопросам

В Т-рекурсивных тестах основной вклад в увеличение неопределенности задач локализации и идентификации отказов вносят:

(Отметьте один правильный вариант ответа.)
Варианты ответа
неисправные эквидистантные P-триггеры двумерной LILO-регистровой P-шины бит-матрицы
неисправные эквидистантные D-триггеры двумерной LILO-регистровой D-шины бит-матрицы
неисправные эквидистантные P-триггеры двумерной FIFO-регистровой P-шины бит-матрицы
неисправные эквидистантные D-триггеры двумерной FIFO-регистровой D-шины бит-матрицы(Верный ответ)
Похожие вопросы
Основной недостаток рекурсивных в пространстве и во времени алгоритмов локализации и идентификации отказов состоит в том, что неисправность:
При локализации и идентификации отказов пространство перебора разбивается на две части:
Чем обусловлена эффективность всей системы локализации и идентификации отказов в бит-матрице?
Какие модули вносят максимальный вклад в пропускную способность по потокам исполняемых инструкций и преобразуемых потоков данных?
В МКМД-бит-процессорной технологии при локализации отказов неделимой единицей проекта являются:
В тестах ТPC-D, TPC-H, TPC-R предусматриваются следующие оценки:
В тестах LINPACK полученные результаты выражаются:
В тестах AIM вычислительная система оценивается по следующим параметрам:
В тестах LINPACK исходные данные для тестирования представляются в виде:
В тестах SPEC в качестве метрик производительности выполнения операций целочисленной и вещественной арифметики используются: