База ответов ИНТУИТ

Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств

<<- Назад к вопросам

Статистические данные, полученные в результате экспериментов, показывают, что эффективность сокращения ДИ с помощью хеш-функций в среднем в пять раз выше, чем сокращение с помощью масок. Вместе с тем применение хеш-функций при диагностировании ЦУ в технологическом процессе производства может привести к его замедлению. Назовите возможные причины такого замедления.

(Отметьте один правильный вариант ответа.)

Варианты ответа
более сложная структура словарей неисправностей при применении хеш-функций, приводящая к увеличению времени идентификации неисправности.
подача реакций ЦУ на вход СА, реализующего хеш-функцию, иногда требует не одного, а нескольких временных тактов из-за того, что число выходов ЦУ может быть больше числа входов СА. (Верный ответ)
необходимость внесения конструктивных изменений аппаратуры диагностирования в технологической цепочке производства ЦУ для адаптации аппаратуры при смене хеш-функции.
построение хеш-функций требует большего времени, чем построение масок.
Похожие вопросы
Целесообразно ли при поиске единой маски или множества индивидуальных масок с помощью жадных алгоритмов 1 или 2, описанных в лекциях 31 и 32, к исходной ДИ, представленной в виде СПР, применять какие-либо методы ее предварительного сокращения (к примеру, преобразования СПР в таблицу неисправностей)? Дайте обоснование любого варианта вашего ответа.
Вычислить и выписать значения перечисленных в условиях задачи функций счета в указанном выше порядке для последовательности R=11010100010
Вычислить и выписать значения перечисленных в условиях задачи функций счета в указанном выше порядке для последовательности R= 11010101110
Для заданных выходных бинарных последовательностей Rвычислить значения функций счета S_0^1(R), S_1^{(\ne)}(R),S_1^{(\equiv)}(R),S_1^{(01)}(R)иS_1^{(10)}(R)Вычислить и выписать значения перечисленных в условиях задачи функций счета в указанном выше порядке для последовательности R=1001011001
К чему может привести неисправность в бинарной диаграмме?
Чем отличаются в "боковые эффекты" от основных экспериментов?
Можно ли задачу сокращения диагностической информации свести к классической задаче о классификации объектов?
Что необходимо определить для решения задачи с помощью генетического алгоритма?
От каких параметров зависит эффективность генетического алгоритма?
Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\} - множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска индивидуальных масок, изложенный в лекции 32, найти для заданного СПР множество индивидуальных масок минимального суммарного объема. Решить задачу для СПР, заданного табл.
T_1T_2T_3T_4
s_001100100
s_100010010
s_200001011
s_301001010
s_411011110
s_510001010
s_610011101
s_710001110
s_801000110