База ответов ИНТУИТ

Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств

<<- Назад к вопросам

Какой размер имеет zoom таблица для t типов элементов с S входами?

(Отметьте один правильный вариант ответа.)

Варианты ответа
t/S
t \cdot S(Верный ответ)
t+S
Похожие вопросы
Представленная ниже таблица - словарь полной реакции (СПР) некоторого ЦУ на тест T_1,T_2,T_3,T_4 Пусть S- разбиение множества состояний ЦУ (s_0- исправное ЦУ, s_i- ЦУ с i-ой неисправностью), а s_j- элементы этого разбиения. Каждому состоянию S_jсоответствует маска h_j, и пусть H- множество всех масок h_j Предполагается, что каждое S_jсодержит одно состояние s_jТребуется построить СПР_Ндля различных типов масок (общих и индивидуальных) при заданном множестве H
T_1T_2T_3T_4
s_011001110
s_110101110
s_200001110
s_300000010
s_401000010
s_501000110
s_601000100
s_710001010
s_811111110
Построить СПР_Н, где множество Hсодержит следующие маски:h_0=h_1=\{1:1,2:1,3:1,4:2\},h_2=\{2:2,4:1\},h_3=h_4=h_5=\{3:2,4:1\},h_6=\{1:2,3:2,4:2\},h_7=\{3:2\},h_8=\{1:2,2:1,4:1\}
Представленная ниже таблица - словарь полной реакции (СПР) некоторого ЦУ на тест T_1,T_2,T_3,T_4 Пусть S- разбиение множества состояний ЦУ (s_0- исправное ЦУ, s_i- ЦУ с i-ой неисправностью), а s_j- элементы этого разбиения. Каждому состоянию S_jсоответствует маска h_j, и пусть H- множество всех масок h_j Предполагается, что каждое S_jсодержит одно состояние s_jТребуется построить СПР_Ндля различных типов масок (общих и индивидуальных) при заданном множестве H
T_1T_2T_3T_4
s_011001110
s_110101110
s_200001110
s_300000010
s_401000010
s_501000110
s_601000100
s_710001010
s_811111110
Построить СПР_Н, где множество Hсодержит единую (общую) маску для всех s_jи эта маска h=\{1:1,2:1,3:1,4:1\}
Чему соответствует в приведенной схеме строка таблицы ?
Испр.a 0b 1c 1d 0e 1f 0f 1
a=110111111
b=000100000
c=000010000
d=111110111
f=a\&b00100001
g=f\vee c00110001
h=c\&d00010000
e=000000100
i=e\vee h00010100
j=g\vee i00110101
Пусть сложная функция описывает функционирование ЦУ, изображенного на приведенном рисунке. Требуется вычислить синдром этой функции, если в реализующей ее схеме участвуют различные типы элементов C_1n_1входами), C_2n_2входами) и элемента C(с двумя входами). Вычислить синдром сложной функции, если C_1есть элемент И-НЕ с тремя входами, C_2есть элемент ИЛИ с двумя входами, Cесть элемент М2.
Пусть сложная функция описывает функционирование ЦУ, изображенного на приведенном рисунке. Требуется вычислить синдром этой функции, если в реализующей ее схеме участвуют различные типы элементов C_1n_1входами), C_2n_2входами) и элемента C(с двумя входами). Вычислить синдром сложной функции, если C_1есть элемент И с двумя входами, C_2есть элемент ИЛИ с тремя входами, Cесть элемент М2.
Пусть сложная функция описывает функционирование ЦУ, изображенного на приведенном рисунке. Требуется вычислить синдром этой функции, если в реализующей ее схеме участвуют различные типы элементов C_1n_1входами), C_2n_2входами) и элемента C(с двумя входами). Вычислить синдром сложной функции, если C_1есть элемент И-НЕ с четырьмя входами, C_2есть элемент ИЛИ-НЕ с двумя входами, Cесть элемент И.
Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\}- множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска масок, изложенный в лекции 31, найти для заданного СПР единую маску минимального объема.Решить задачу для СПР, заданного табл
T_1T_2T_3T_4
s_001100100
s_100010010
s_200001011
s_301001010
s_411011110
s_510001010
s_610011101
s_710001110
s_801000110
Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\}- множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска масок, изложенный в лекции 31, найти для заданного СПР единую маску минимального объема.Решить задачу для СПР, заданного табл.
T_1T_2T_3T_4
s_010011110
s_110101110
s_200111110
s_300000011
s_401001010
s_501000110
s_601000100
s_710001010
s_811111110
Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
\pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
00000001010101010000000111111101
Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.Постройте таблицу неисправностей Т-ТФН для диагностического теста \pi_{13}, \pi_{14} В качестве множества неисправностей использовать множество F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}
Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
\pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
00000001010101010000000111111101
Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.Постройте таблицу обнаружения неисправностей для диагностического теста \pi_{13}, \pi_{14} В качестве множества неисправностей использовать множество F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}