База ответов ИНТУИТ

Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств

<<- Назад к вопросам

Какую сложность имеет метод STAFAN? В зависимости от числа линий схемы N

(Отметьте один правильный вариант ответа.)
Варианты ответа
N (Верный ответ)
N^{2}
N^{3}
2^{N}
Похожие вопросы
Чему соответствует в приведенной схеме строка таблицы ?
Испр.a 0b 1c 1d 0e 1f 0f 1
a=110111111
b=000100000
c=000010000
d=111110111
f=a\&b00100001
g=f\vee c00110001
h=c\&d00010000
e=000000100
i=e\vee h00010100
j=g\vee i00110101
Представленная ниже таблица - словарь полной реакции (СПР) некоторого ЦУ на тест T_1,T_2,T_3,T_4 Пусть S- разбиение множества состояний ЦУ (s_0- исправное ЦУ, s_i- ЦУ с i-ой неисправностью), а s_j- элементы этого разбиения. Каждому состоянию S_jсоответствует маска h_j, и пусть H- множество всех масок h_j Предполагается, что каждое S_jсодержит одно состояние s_jТребуется построить СПР_Ндля различных типов масок (общих и индивидуальных) при заданном множестве H
T_1T_2T_3T_4
s_011001110
s_110101110
s_200001110
s_300000010
s_401000010
s_501000110
s_601000100
s_710001010
s_811111110
Построить СПР_Н, где множество Hсодержит следующие маски:h_0=h_1=\{1:1,2:1,3:1,4:2\},h_2=\{2:2,4:1\},h_3=h_4=h_5=\{3:2,4:1\},h_6=\{1:2,3:2,4:2\},h_7=\{3:2\},h_8=\{1:2,2:1,4:1\}
Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\}- множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска масок, изложенный в лекции 31, найти для заданного СПР единую маску минимального объема.Решить задачу для СПР, заданного табл.
T_1T_2T_3T_4
s_010011110
s_110101110
s_200111110
s_300000011
s_401001010
s_501000110
s_601000100
s_710001010
s_811111110
Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\}- множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска масок, изложенный в лекции 31, найти для заданного СПР единую маску минимального объема.Решить задачу для СПР, заданного табл
T_1T_2T_3T_4
s_001100100
s_100010010
s_200001011
s_301001010
s_411011110
s_510001010
s_610011101
s_710001110
s_801000110
В таблице
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р = 3 и r = 3.
В таблице
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 5.
В таблице
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 3.
В таблице
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.5) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.5) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r], представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р = 3 и r = 3.
В таблице
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.4) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.4) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 5.
В таблице
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.4) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.4) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 3.