Как могут отличаться пары состояний исправной и неисправной схем при кратной стратегии?
Какой метод генерации тестов комбинационных схем можно применять для построения теста для последовательностных схем на основе итеративной комбинационной схемы?
Какие из приведенных ниже дефектов характерны для интегральных схем?
Алфавиты какой значности используются для построения тестов для последовательностных схем?
Какие основные подходы используются при построении тестов для цифровых схем с памятью?
От каких параметров может зависеть фитнесс-функция при ? при генерации тестов для последовательностных схем?
Какие дополнительные действия необходимы в моделировании неисправностей по сравнению с моделированием исправных схем?
Чем отличается прямое различающее дерево от дерева преемников состояний?
Чем отличаются одиночная и кратная стратегии наблюдения выходных сигналов?
Какие значения сигналов после моделирования должны иметь линии - кандидаты на включение в проверяемые пути?
