Является ли тест , диагностическим для множества неисправностей ?

Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена на рисунке, помещенном ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество

возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы $\pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111$ Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:


$\pi_0$	$\pi_1$	$\pi_2$	$\pi_3$	$\pi_4$	$\pi_5$	$\pi_6$	$\pi_7$	$\pi_8$	$\pi_9$	$\pi_{10}$	$\pi_{11}$	$\pi_{12}$	$\pi_{13}$	$\pi_{14}$	$\pi_{15}$
00	00	00	01	01	01	01	01	00	00	00	01	11	11	11	01

Требуется построить таблицу ТФН.

В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество $F=\{ f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}$ Требуется построить таблицу Т-ТФН. В качестве теста использовать последовательность $\pi_{11}$ , $\pi_{12}$

Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество

возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы $\pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111$ Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:


$\pi_0$	$\pi_1$	$\pi_2$	$\pi_3$	$\pi_4$	$\pi_5$	$\pi_6$	$\pi_7$	$\pi_8$	$\pi_9$	$\pi_{10}$	$\pi_{11}$	$\pi_{12}$	$\pi_{13}$	$\pi_{14}$	$\pi_{15}$
00	00	00	01	01	01	01	01	00	00	00	01	11	11	11	01

Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.Постройте таблицу неисправностей Т-ТФН для диагностического теста $\pi_{13}$ , $\pi_{14}$ В качестве множества неисправностей использовать множество $F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}$

Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество

возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы $\pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111$ Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:


$\pi_0$	$\pi_1$	$\pi_2$	$\pi_3$	$\pi_4$	$\pi_5$	$\pi_6$	$\pi_7$	$\pi_8$	$\pi_9$	$\pi_{10}$	$\pi_{11}$	$\pi_{12}$	$\pi_{13}$	$\pi_{14}$	$\pi_{15}$
00	00	00	01	01	01	01	01	00	00	00	01	11	11	11	01

Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.Постройте таблицу обнаружения неисправностей для диагностического теста $\pi_{13}$ , $\pi_{14}$ В качестве множества неисправностей использовать множество $F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}$

В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества $F={f_1, f_2,…, f_8}$ , на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию

с параметром

, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций Т(h)

, если длина свертки равна

битам.


Неисправность	Реакции ДУ на тест
	101100110011101
	101110111001110
	101100110011100
	101001011001110
	101100110010001
	101101110011101
	101110110011001
	100101110010111

Решить задачу при значении Р = 5

и

.

В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества $F={f_1, f_2,…, f_8}$ , на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию

с параметром

, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций Т(h)

, если длина свертки равна

битам.


Неисправность	Реакции ДУ на тест
	101100110011101
	101110111001110
	101100110011100
	101001011001110
	101100110010001
	101101110011101
	101110110011001
	100101110010111

Решить задачу при значении Р = 3

и

.

В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества $F={f_1, f_2,…, f_8}$ , на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию

с параметром

, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций Т(h)

, если длина свертки равна

битам.


Неисправность	Реакции ДУ на тест
	101100110011101
	101110111001110
	101100110011100
	101001011001110
	101100110010001
	101101110011101
	101110110011001
	100101110010111

Решить задачу при значении Р = 5

и

.

В табл.


Неисправность	Реакции ДУ на тест
	101100110011101
	101110111001110
	101100110011100
	101001011001110
	101100110010001
	101101110011101
	101110110011001
	100101110010111

представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества $F={f_1,f_2,\ldots,f_8}$ , на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию

с параметром

, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна

битам.Решить задачу при значении Р = 5

и

.

В табл.


Неисправность	Реакции ДУ на тест
	101100110011101
	101110111001110
	101100110011100
	101001011001110
	101100110010001
	101101110011101
	101110110011001
	100101110010111

представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества $F={f_1,f_2,\ldots,f_8}$ , на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию

с параметром

, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна

битам.Решить задачу при значении Р = 5

и

.

В табл.


Неисправность	Реакции ДУ на тест
	101100110011101
	101110111001110
	101100110011100
	101001011001110
	101100110010001
	101101110011101
	101110110011001
	100101110010111

представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества $F={f_1,f_2,\ldots,f_8}$ , на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию

с параметром

, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна

битам.Решить задачу при значении Р = 3

и

.

Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество

возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы $\pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111$ Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:


$\pi_0$	$\pi_1$	$\pi_2$	$\pi_3$	$\pi_4$	$\pi_5$	$\pi_6$	$\pi_7$	$\pi_8$	$\pi_9$	$\pi_{10}$	$\pi_{11}$	$\pi_{12}$	$\pi_{13}$	$\pi_{14}$	$\pi_{15}$
00	00	00	01	01	01	01	01	00	00	00	01	11	11	11	01

Требуется построить таблицу ТФН.

В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество $F=\{f_1,f_2,f_3\}$ Здесь f_1

- Const 1 на входе 3, f_2

- Const 1 на входе 2, f_3

- Const 0 на входе 2. В качестве теста использовать последовательность $\pi_{10}$ , $\pi_{11}$ Для множества

требуется построить таблицу Т-ТФН.

Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств

Является ли тест $\pi_{10}$ , $\pi_{12}$ диагностическим для множества неисправностей $F=\{ f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}$ ?