База ответов ИНТУИТ

Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств

<<- Назад к вопросам

В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций Т(h), если длина свертки равна r битам.
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
Решить задачу при значении Р = 3 и r = 3.

(Отметьте один правильный вариант ответа.)
Варианты ответа
Неисправность
f_1111
f_2010
f_3110
f_4000
f_5011
f_6010
f_7111
f_8001
(Верный ответ)
Неисправность
f_101101
f_200010
f_301100
f_410000
f_510111
f_610010
f_701101
f_801001
Неисправность
f_1101
f_2010
f_3100
f_4000
f_5111
f_6010
f_7101
f_8001
Неисправность
f_111110
f_201110
f_311111
f_410000
f_510010
f_611110
f_711101
f_800111
Похожие вопросы
В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций Т(h), если длина свертки равна r битам.
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
Решить задачу при значении Р = 5 и r = 3.
В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций Т(h), если длина свертки равна r битам.
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
Решить задачу при значении Р = 5 и r = 5.
В табл.
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна r битам.Решить задачу при значении Р = 3 и r = 3.
В табл.
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна r битам.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 3.
В табл.
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна r битам.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 5.
В таблице
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 3.
В таблице
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р = 3 и r = 3.
В таблице
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 5.
В таблице
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.4) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.4) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р = 3 и r = 3.
В таблице
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.5) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.5) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r], представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 3.