Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств

<<- Назад к вопросам

Какой метод моделирования неисправностей используется в третьей фазе эволюционного алгоритма генерации теста?

(Отметьте один правильный вариант ответа.)

Варианты ответа

параллельный метод по неисправностям

параллельный метод по наборам (Верный ответ)

совместный метод

Похожие вопросы

Какие фазы имеет процесс реализации эволюционного алгоритма генерации теста?

Какой критерий используется при окончании фазы 2 генерации теста?

Какой метод генерации тестов комбинационных схем можно применять для построения теста для последовательностных схем на основе итеративной комбинационной схемы?

Чему соответствует в схеме список неисправностей в дедуктивном методе моделирования неисправностей?

Что необходимо для моделирования неисправностей?

Какое условие окончания генерации теста при использовании дизъюнктивной формы различающей функции?

Какое условие окончания генерации теста при использовании конъюнктивной формы различающей функции?

Сколько проходов параллельного моделирования необходимо для неисправностей на p-разрядном инструментальном компьютере?

Какой алфавит используется для моделирования шинных структур ?

Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество

возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы $\pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111$ Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:


$\pi_0$	$\pi_1$	$\pi_2$	$\pi_3$	$\pi_4$	$\pi_5$	$\pi_6$	$\pi_7$	$\pi_8$	$\pi_9$	$\pi_{10}$	$\pi_{11}$	$\pi_{12}$	$\pi_{13}$	$\pi_{14}$	$\pi_{15}$
00	00	00	01	01	01	01	01	00	00	00	01	11	11	11	01

Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.Постройте таблицу неисправностей Т-ТФН для диагностического теста $\pi_{13}$ , $\pi_{14}$ В качестве множества неисправностей использовать множество $F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}$