Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств - ответы

Количество вопросов - 341

Какую сложность решения в общем случае имеет задача выполнимости КНФ?

Как производится выбор генетического оператора?

Какие линии входят в активизированный путь?

На рисунке представлены временные диаграммы логического моделирования для вентиля И C=A&B. Какая модель задержки элемента использовалась при моделировании и с какими параметрами?

Какой размер имеет zoom таблица для t типов элементов с S входами?

Как соотносятся список дедуктивного метода и суперсписок конкурентного метода?

На вход сигнатурного анализатора (СА), схема которого представлена на приведенном рисунке, подается бинарная входная последовательность \varphi(x) Требуется определить сигнатуру последовательности \varphi(x), т.е. содержимое сдвигового регистра (S_3,S_2,S_1), после подачи \varphi(x)на вход СА. Предполагается, что начальное состояние СА нулевое.Определить сигнатуру для последовательности \varphi(x) = 1010111

В табл.
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна r битам.Решить задачу при значении Р =  5 и r = 5.

При переходе на многозначный алфавит сколько вентилей используется при моделировании логического элемента?

Что лежит в основе статического сжатия теста?

Можно ли удалять отдельные переменные из КНФ?

Какое булево уравнение необходимо решить при построении теста для неисправности константной неисправности h_{i}\equiv 0 ?

Какие значения соседних входов надо присвоить при акти-визации пути через вентиль НЕ-ИЛИ?

Как моделируется замыкание двух линий в ТТЛ логике?

Какой физический смысл символа D в 6-значнгом алфавите T_{6}=\{\varnothing ,0,1,D,D',u\}?

Какие одиночные константные неисправности вентиля f=a+b+c+d проверяет входной набор a=0,b=0,c=1,d=0?

Что составляет основу в методе покрытия путей в бинарной диаграмме?

Что является целью тестирования на этапе производства?

Чем отличается устойчивый тест от неустойчивого для неисправности "задержка" ?

Какой метод генерации тестов комбинационных схем можно применять для построения теста для последовательностных схем на основе итеративной комбинационной схемы?

Какие дополнительные действия необходимы в моделировании неисправностей по сравнению с моделированием исправных схем?

Какие преимущества двухпроходного событийного алгоритма моделирования?

Сколько проходов параллельного моделирования необходимо для неисправностей на p-разрядном инструментальном компьютере?

По какому критерию производится выбор входа для вентиля И в процедуре обратного распространения?

Какую выходную реакцию y выдает автомат, представленный на рисунке, на входную последовательность x=110 при начальном состоянии s=2 ?

Чему соответствует в приведенной схеме строка таблицы ?
Испр.a 0b 1c 1d 0e 1f 0f 1
a=110111111
b=000100000
c=000010000
d=111110111
f=a\&b00100001
g=f\vee c00110001
h=c\&d00010000
e=000000100
i=e\vee h00010100
j=g\vee i00110101

В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций Т(h), если длина свертки равна r битам.
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
Решить задачу при значении Р =  5 и r = 5.

Чем отличаются области проектирования от уровней моделирования?

Какая фитнесс-функция используется при оценке входного набора в системе АСМИД?

Какая КНФ соответствует приведенной схеме?

Какие области представления используются в проектировании цифровых устройств?

Что применяется в проектировании цифровых устройств в поведенческой области на схемном уровне?

В какой области раньше была решена задача автоматизация синтеза?

Какую булеву функцию представляет приведенная таблица истинности?

Какую булеву функцию представляет бинарная диаграмма (альтернативный граф), приведенная на рисунке?

Какую выходную реакцию y выдает автомат, представленный на рисунке, на входную последовательность x=010 при начальном состоянии s=3 ?

Какая информация содержится в структурной модели цифрового устройства?

Какие производственные задачи решаются с помощью логического моделирования из перечисленных ниже:
  • изготовление ЦУ;
  • проверка логики функционирования;
  • размещение логических элементов;
  • трассировка соединений;
  • поиск неисправностей;
  • анализ состязаний сигналов;
  • определение временных характеристик;
  • выборочный контроль
  • Какие типы машинных моделей используются в логическом моделировании?

    Какой физический смысл имеет символ u 3-значного алфавита E_3=\{0,1,u\}?

    Какой физический смысл имеет символ E 5-значного алфавита E_5=\{0,1,E,H,u\}?

    Какое значение принимает выход z логического вентиля НЕ-ИЛИ z=\overline {x \vee y} в 5-значном алфавите E_5=\{0,1,E,H,u\} при значениях входов x=H,  y=E ?

    Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию f^*=\overline {A^*B^*}?

    На рисунке представлены временные диаграммы логического моделирования для вентиля И C=A&B. Какая модель задержки элемента использовалась при моделировании и с какими параметрами?

    Чем отличается событийное модели-рование от сквозного?

    Какие преимущества интерпретатив-ной модели?

    Чем обусловлено явление со-стязаний сигналов?

    На переходе x_1=1, x_2=1, x_3=1, x_4=0  ->  x_1=0, x_2=0, x_3=0, x_4=0 карты Карно, представленной на рисунке содержатся состязания:

    Сколько этапов имеет алгоритм обнаружения состязаний Эйхельбергера?

    Какой физический смысл имеет символ D* универсального 16-значного алфавита B_{16} ?

    Какую алгебраическую структуру образуют основные многозначные алфавиты?

    Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию f^*=\overline {A^*\vee B^*} ?

    Какие алфавиты используются для анализа состязаний?

    Какие из приведенных ниже дефектов характерны для интегральных схем?

    Что характеризует неисправность "задержка"?

    Какие одиночные константные неисправности вентиля f=a\&b\&c\&d проверяет входной набор a=1,b=0,c=1,d=1?

    Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме.Какие неисправности прилагаемой схемы эквивалентны?

    Как моделируется замыкание двух линий в ЭСЛ логике?

    Какие неисправности используются на переключательном уровне?

    Сколько входных набров используется для тестирования неисправности "задержка"?

    Какие перекрестные помехи рассматриваются?

    Что необходимо для моделирования неисправностей?

    Что проще реализовать в последовательном моделировании для неисправностей?

    Сколько неисправностей моделируется в параллельном методе на p-разрядном инструментальном компьютере?

    Какое значение сигнала на линии j при неисправности g\equiv 1?

    Как увеличиваются затраты памяти параллельного метода при переходе на троичный алфавит?

    Сколько машинных слов выделяется одной линии в многозначном моделировании неисправностей?

    Какие неисправности содержит список?

    Какое правило распространения неисправностей для вентиля f=a\&b\&c при значениях входов a=1, b=1, c=1 ?

    При переходе на троичный алфавит сколько вентилей используется при моделировании логического элемента?

    Какие методы вычисления значений выходных сигналов элементов можно использовать в конкурентном методе?

    Какой физический смысл имеет символ D?

    Какой стандартной неисправности соответствует неисправность "задержка переднего фронта" при большом времени перехода.

    Какой физический смысл имеет символ F0 5-значного алфавита D_{5}=\{0,1,F0,F1,u\}?

    На 6-значный алфавит D_{6}=\{0,1,F0,F1,D,D'\}.Какое значение на выходе вентиля И, если его входы имеют значения D_{6  } F1 и D'.

    Каким символом представляется задний фронт в 6-значном алфавите D_{6}=\{0,1,F0,F1,D,D'\}.

    Что "прослеживается" в методе обратного прослеживания?

    Что определяет с1(n) - управляемость линии n в STAFAN?

    Какую сложность имеет метод STAFAN? В зависимости от числа линий схемы N

    Какие аспекты имеет генерация тестов?

    С какой вероятностью генерирются 0,1-сигналы для каждо-го входа?

    В каком направлении строятся критические пути?

    Определите методом различающей функции, какой набор является тестом для неисправности х_{1}\equiv 1 приведенной схемы?

    Какое определение булевой производной верно?

    Определите методом различающей функции, какой набор явля-ется тестом для неисправности х_{2}\equiv 0 приведенной схемы?

    Определите методом активизации одномерных путей, какой на-бор является тестом для неисправности х_{4}\equiv 1 приведенной схемы?

    Какие этапы имеют методы генерации тестов в многозначных алфавитах?

    Какие кубы из приведенных ниже являются 0-кубами вентиля c=a\&b?

    По какому критерию производится выбор вентиля в D-границе в методе PODEM?

    На каком этапе возможен конфликт в методе PODEM?

    Что дает разбиение схемы на одновыходные древовидные подсхемы?

    Что дает использование процедуры кратного обратного распространение в методе SOCRATES?

    Какие алфавиты повышенной значности используются при генерации тестов?

    Какая операция является основной при построении теста в 16-значном алфавите?

    Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля (Z=X\oplus Y) при преобразовании в КНФ?

    Какая КНФ соответствует приведенной схеме?

    При каком числе термов в дизъюнктах задача выполнимости КНФ имеет полиномиальную сложность?

    Что можно внести в КНФ для учета нелокальной импликации?

    При решении каких задач можно использовать бинарные диаграммы?

    Как используются бинарные диаграммы при построении тестов?

    Чем отличаются в "боковые эффекты" от основных экспериментов?

    Чем отличается прямое различающее дерево от дерева преемников состояний?

    Что определяет в прямом различающем дереве тестовую последовательность?

    Что делает синхронизирующая входная последовательность?

    Какие входные последовательности можно использовать на этапе инициализации?

    Как соединяются комбинационные эквиваленты в итеративную комбинационную схему?

    Какие виды импликации используются при построении тестов в 16-значном алфавите?

    Чем определяется число комбинационных эквивалентов в итеративной комбинационной схеме?

    Как должны отличаться пары состояний исправной и неисправной схем при одиночной стратегии?

    Что соответствует терму различающей функции?

    На каких принципах основаны эволюционные вычисления?

    Как реализуется репродукция?

    От каких параметров зависит эффективность генетического алгоритма?

    Как можно определить особь при генерации тестов для комбинационной схемы?

    Как можно определить особь при генерации тестов для последовательностной схемы?

    Какие виды мутации используются при генерации тестов для последовательностной схемы?

    Какая фитнесс-функция используется при оценке тестовой последовательности в системе АСМИД?

    Какой критерий используется при окончании фазы 2 генерации теста?

    Для заданных выходных бинарных последовательностей Rвычислить значения функций счета S_0^1(R), S_1^{(\ne)}(R),S_1^{(\equiv)}(R),S_1^{(01)}(R)иS_1^{(10)}(R)Вычислить и выписать значения перечисленных в условиях задачи функций счета в указанном выше порядке для последовательности R=1001011001

    Пусть сложная функция описывает функционирование ЦУ, изображенного на приведенном рисунке. Требуется вычислить синдром этой функции, если в реализующей ее схеме участвуют различные типы элементов C_1n_1входами), C_2n_2входами) и элемента C(с двумя входами). Вычислить синдром сложной функции, если C_1есть элемент И-НЕ с четырьмя входами, C_2есть элемент ИЛИ-НЕ с двумя входами, Cесть элемент И.

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111 Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Требуется построить таблицу ТФН. В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество F=\{f_1,f_2,f_3\} Здесь f_1- Const 1 на входе 3, f_2- Const 1 на входе 2, f_3- Const 0 на входе 2.

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111 Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Требуется построить таблицу ТФН. В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество F=\{f_1,f_2,f_3\} Здесь f_1- Const 1 на входе 3, f_2- Const 1 на входе 2, f_3- Const 0 на входе 2. В качестве теста использовать последовательность \pi_{10}, \pi_{11}Для множества F требуется построить таблицу Т-ТФН.

    Является ли тест \pi_{10}, \pi_{12}диагностическим для множества неисправностей F=\{ f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}?

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.Постройте таблицу обнаружения неисправностей для диагностического теста \pi_{13}, \pi_{14} В качестве множества неисправностей использовать множество F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.Используя Т-ТФН, построенную для ЦУ-1, постройте словарь неисправностей с ориентацией на выходы для диагностического теста \pi_{13}, \pi_{14} В качестве множества неисправностей использовать множество F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\} Предполагается, что выход 1-это линия 10, а выход 2- это линия 11 ЦУ-1.

    Представленная ниже таблица - словарь полной реакции (СПР) некоторого ЦУ на тест T_1,T_2,T_3,T_4 Пусть S- разбиение множества состояний ЦУ (s_0- исправное ЦУ, s_i- ЦУ с i-ой неисправностью), а s_j- элементы этого разбиения. Каждому состоянию S_jсоответствует маска h_j, и пусть H- множество всех масок h_j Предполагается, что каждое S_jсодержит одно состояние s_jТребуется построить СПР_Ндля различных типов масок (общих и индивидуальных) при заданном множестве H
    T_1T_2T_3T_4
    s_011001110
    s_110101110
    s_200001110
    s_300000010
    s_401000010
    s_501000110
    s_601000100
    s_710001010
    s_811111110
    Построить СПР_Н, где множество Hсодержит следующие маски:h_0=h_1=\{1:1,2:1,3:1,4:2\},h_2=\{2:2,4:1\},h_3=h_4=h_5=\{3:2,4:1\},h_6=\{1:2,3:2,4:2\},h_7=\{3:2\},h_8=\{1:2,2:1,4:1\}

    Жадный алгоритм поиска масок, описанный в лекции 31,базируется на применении конструкции дерева решений. Проиллюстрируйте конструкцию классического дерева решений для решения следующей задачи: имеется 8 одинаковых монет, среди которых одна фальшивая (она легче, чем стандартная). Монеты пронумерованы числами 1,2,…,8. Требуется найти фальшивую монету, используя равновесные весы с двумя чашками (пусть левая чашка имеет №1, правая - №2).

    Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\}- множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска масок, изложенный в лекции 31, найти для заданного СПР единую маску минимального объема.Решить задачу для СПР, заданного табл.
    T_1T_2T_3T_4
    s_010011110
    s_110101110
    s_200111110
    s_300000011
    s_401001010
    s_501000110
    s_601000100
    s_710001010
    s_811111110

    Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\} - множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска индивидуальных масок, изложенный в лекции 32, найти для заданного СПР множество индивидуальных масок минимального суммарного объема. Решить задачу для СПР, заданного табл.
    T_1T_2T_3T_4
    s_010011110
    s_110101110
    s_200111110
    s_300000011
    s_401001010
    s_501000110
    s_601000100
    s_710001010
    s_811111110

    В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций Т(h), если длина свертки равна r битам.
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    Решить задачу при значении Р = 3 и r = 3.

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in  [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р =  3 и r = 3.

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.4) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.4) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р =  3 и r = 3.

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.5) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.5) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r], представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 3.

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.5) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.5) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r], представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р =  5 и r = 5.

    Какие из приведенных ниже дефектов характерны для плат?

    Что содержит элемент очереди будущих событий?

    Представленная ниже таблица - словарь полной реакции (СПР) некоторого ЦУ на тест T_1,T_2,T_3,T_4 Пусть S- разбиение множества состояний ЦУ (s_0- исправное ЦУ, s_i- ЦУ с i-ой неисправностью), а s_j- элементы этого разбиения. Каждому состоянию S_jсоответствует маска h_j, и пусть H- множество всех масок h_j Предполагается, что каждое S_jсодержит одно состояние s_jТребуется построить СПР_Ндля различных типов масок (общих и индивидуальных) при заданном множестве H
    T_1T_2T_3T_4
    s_011001110
    s_110101110
    s_200001110
    s_300000010
    s_401000010
    s_501000110
    s_601000100
    s_710001010
    s_811111110
    Построить СПР_Н, где множество Hсодержит единую (общую) маску для всех s_jи эта маска h=\{1:1,2:1,3:1,4:1\}

    От каких параметров может зависеть фитнесс-функция при ? при генерации тестов для последовательностных схем?

    Чем отличается процедура продвижения назад в методе FAN?

    Какие компоненты включает система генерации тестов?

    Чем отличаются одиночная и кратная стратегии наблюдения выходных сигналов?

    Что является главным в операторе кроссинговера?

    Какой физический смысл имеет символ F1 5-значного алфавита D_{5}=\{0,1,F0,F1,u\}.

    Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию f^*=\overline A^*B^* ?

    Как можно определить фитнесс-функцию при генерации тестов для комбинационной схемы?

    Какое правило распространения неисправностей для вентиля f=a\&b при кодированных значениях входов a^{0}=0, a^{1}=1, b^{0}=0, b^{1}=1?

    Что применяется в проектировании цифровых устройств в структурной области на схемном уровне?

    На переходе x_1=1, x_2=0, x_3=0, x_4=0  ->  x_1=1, x_2=0, x_3=1, x_4=1 карты Карно, представленной на рисунке содержатся состязания:

    Какие дефекты может моделировать константная неисправность?

    Что дает использование процедуры уникальной активизации в методе SOCRATES?

    Какое значение сигнала на линии f при неисправности b\equiv 1?

    Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию f^*=\overline A^*B^*?

    Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\} - множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска индивидуальных масок, изложенный в лекции 32, найти для заданного СПР множество индивидуальных масок минимального суммарного объема. Решить задачу для СПР, заданного табл.
    T_1T_2T_3T_4
    s_001100100
    s_100010010
    s_200001011
    s_301001010
    s_411011110
    s_510001010
    s_610011101
    s_710001110
    s_801000110

    Какое правило распространения неисправностей для вентиля f=a \vee b c при значениях входов a=0, b=0, c=0 ?

    Что определяет в_{0}(n)- 0-наблюдаемость линии n в STAFAN?

    Оценивается вероятность обнаружения неисправности const1 на линии n?

    Какие этапы имеет метод активизации одномерных путей?

    На чем основаны методы построения идентифицирующих и тестовых последовательностей в экспериментах над автоматами?

    Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля (Z=X\vee Y) при преобразовании в КНФ?

    Чем обусловлена задержка сигнала в модели "задержка вентиля"?

    Вычислить и выписать значения перечисленных в условиях задачи функций счета в указанном выше порядке для последовательности R=11010100010

    Какое значение принимает выход z логического вентиля НЕ-И z=\overline {x&y} в 5-значном алфавите E_5=\{0,1,E,H,u\} при значениях входов x=1,  y=E ?

    Какие уровни представления применяются в проектировании цифровых устройств?

    Как отражается синтез цифровых устройств на диаграмме Гайского-Кана?

    Какую булеву функцию представляет приведенная таблица истинности?

    Какую булеву функцию представляет бинарная диаграмма (альтернативный граф), приведенная на рисунке?

    Как могут быть описаны конечные автоматы в ЯРП?

    Какие компоненты из перечисленных входят в структуру системы логического моделировании:

    Какой физический смысл имеет символ 0 3-значного алфавита E_3=\{0,1,u\}?

    Какой физический смысл имеет символ u 5-значного алфавита E_5=\{0,1,E,H,u\}?

    Какие преимущества компиля-тивной модели?

    Какие используются способы модели-рования временного механизма?

    На переходе x_1=1, x_2=1, x_3=1, x_4=0  ->  x_1=0, x_2=1, x_3=1, x_4=0 карты Карно, представленной на рисунке содержатся состязания:

    Какой алфавит сигналов использует метод Эйхельбергера?

    Какой физический смысл имеет символ G0 универсального 16-значного алфавита B_{16} ?

    Какой алфавит используется для моделирования шинных структур ?

    Какие многозначные алфавиты применяются при генерации тестов?

    Что характеризует константную неисправность?

    Какие наводки превалируют в субмикронных технологиях?

    Где используется логическое моделирование?

    Как изменяются затраты памяти последовательном моделировании для N_f неисправностей?

    Какие неисправности проверяются на приведенной таблице?

    Что повышает скорость вычислений значений элемента в многозначном алфавите?

    С чем ассоциируется список неисправностей в конкурентном методе?

    Какой многозначный алфавит использует метод Test-Detect?

    Сколько входных наборов используется для тестирования неисправности "задержка"?

    На 6-значный алфавит D_{6}=\{0,1,F0,F1,D,D'\}.Какое значение на выходе вентиля И, если его входы имеют значения D_{6  } D' и D.

    Какие значения сигналов после моделирования должны иметь линии - кандидаты на включение в проверяемые пути?

    Какие значения сигналов после моделирования должны иметь линии - кандидаты на включение в проверяемые пути?

    Какие методы генерации тестов используются на начальном этапе?

    Когда входной набор включается в тест?

    Для какого вентиля куб 1^*1^*1^* (abс) является критическим?

    Определите методом активизации одномерных путей, какой набор является тестом для неисправности х_{2}\equiv 0 приведенной схемы?

    Какие действия выполняются при возникновении конфликта в методе PODEM?

    Что дает использование более крупных примитивов в методе SOCRATES?

    Какой физический смысл имеет символ G0 в 10-значном алфавите?

    На каких уровнях проектирования можно использовать бинарные диаграммы?

    Какие модели неисправностей ориентированы на бинарные диаграммы?

    Какие основные подходы используются при построении тестов для цифровых схем с памятью?

    Что определяет в обратном различающем дереве тестовую последовательность?

    Что идентифицирует входная установочная последовательность?

    Чему соответствует комбинационный эквивалент?

    Какие фазы включает контрольный эксперимент?

    Что учитывается в процессе структурной импликации?

    Что присваивается линиям схемы в процессе символьного моделирования?

    Что представляет особь в генетическом алгоритме?

    Что является основным в операторе мутации?

    В каком порядке выполняются генетические операторы в простом генетическом алгоритме?

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111 Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Требуется построить таблицу ТФН. В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество F=\{f_4,f_5,f_6\} Здесь f_4- Const 1 на выходе 7, f_5- Const 0 на выходе 8, f_6- Const 0 на выходе 9.

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена на рисунке, помещенном ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111 Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Требуется построить таблицу ТФН. В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество F=\{f_4,f_5,f_6\} Здесь f_4- Const 1 на выходе 7, f_5- Const 0 на выходе 8, f_6- Const 0 на выходе 9. В качестве теста использовать последовательность \pi_{10}, \pi_{11} Для множества F требуется построить таблицу Т-ТФН.

    Позволяет ли входная последовательность \pi_{13}, \pi_{14}обнаруживать в ЦУ, представленном в задаче 4, неисправности из множества F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}?

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.Постройте словарь неисправностей с использованием компактных сверток по выходу для диагностического теста \pi_{13}, \pi_{14} В качестве множества неисправностей использовать F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\} Предполагается, что выход 1-это линия 10, а выход 2- это линия 11 ЦУ-1.

    Можно ли задачу сокращения диагностической информации свести к классической задаче о классификации объектов?

    Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\}- множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска масок, изложенный в лекции 31, найти для заданного СПР единую маску минимального объема.Решить задачу для СПР, заданного табл
    T_1T_2T_3T_4
    s_001100100
    s_100010010
    s_200001011
    s_301001010
    s_411011110
    s_510001010
    s_610011101
    s_710001110
    s_801000110

    В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций Т(h), если длина свертки равна r битам.
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    Решить задачу при значении Р =  5 и r = 3.

    Что дает сжатие тестов?

    Какие троичные значения представляют 2 компоненты троичного вектора B^0=(0 1 1 1 0), B^1= (0 0 1 0 1)?

    Определите методом различающей функции, какой набор явля-ется тестом для неисправности х_{1}\equiv 1 приведенной схемы?

    Какими процедурами отличается метод PODEM от D-алгоритма?

    Чем характеризуется гомогенная А-группа?

    Какой физический смысл имеет символ Е универсального 16-значного алфавита B_{16} ?

    Что нужно внести в КНФ для учета информации об активизированных путях?

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.5) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.5) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r], представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р =  3 и r = 3.

    Какие пути активизируют 0-эксперименты в бинарных диаграммах?

    Какую булеву функцию представляет приведенная таблица истинности?

    Что позволяет восстановить контрольный эксперимент?

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in  [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р =  5 и r = 5.

    Какие недостатки компилятивной мо-дели?

    Какой физический смысл имеет символ H 5-значного алфавита E_5=\{0,1,E,H,u\}?

    Каким способом, из перечисленных ниже, может быть описано ЦУ на логическом уровне в поведенческой области: 1)системные спецификации; 2)макроячейки,;3) булевы функции; 4) ЯРП?

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.4) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.4) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 3.

    Какой символ B_{4} на выходе показывает проверямость неисправности?

    Определите методом активизации одномерных путей, какой на-бор является тестом для неисправности х_{1}\equiv 1 приведенной схемы?

    Что является целью тестирования на этапе диагностики и восстановления?

    Какую выходную реакцию y выдает автомат, представленный таблицей, на входную последовательность x=011 при начальном состоянии s=1 ?
    SX
    01
    12,13,0
    22,14,0
    31,04,0
    43,12,0

    Какие ситуации отражает символ u 3-значного алфавита E_3=\{0,1,u\}?

    Какие преимущества дает zoom таблица?

    Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию f^*=\overline {A^*\vee B^*}?

    Чем отличается однопроходной алгоритм событийного моделирования от двухпроходного?

    Чем отличается динамическое состяза-ние от статического?

    Что характеризует транзисторные неисправности?

    Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме.Какие одиночные константные неисправности схемы находятся в отношении доминирования?

    Какие отказы характерны для МОП-технологии?

    Чем обусловлена задержка сигнала в модели "задержка пути"?

    Как вносится влияние неисправностей в параллельном методе?

    Как падает быстродействие параллельного метода при переходе на троичный алфавит?

    Чему соответствует в схеме список неисправностей в дедуктивном методе моделирования неисправностей?

    Какие основные процедуры в конкурентном методе?

    Какие значения сигналов после моделирования должны иметь линии - кандидаты на включение в проверяемые пути?

    Какие счетчики определяются для каждой линии схемы в STAFAN?

    Оценивается вероятность обнаружения неисправности const0 на линии n?

    Какие кубы из приведенных ниже являются D-кубами вентиля c=a\&b?

    Как выполняется импликация в методе PODEM?

    Какая импликация используется в методе FAN?

    Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля (Z=X\cdot Y) при преобразовании в КНФ?

    К чему может привести неисправность в бинарной диаграмме?

    Что лежит в основе динамического сжатия тестов?

    Что дает увеличение значности алфавита при построении теста?

    Какое условие окончания генерации теста при использовании дизъюнктивной формы различающей функции?

    Какие основные операторы используются в генетическом алгоритме?

    Пусть сложная функция описывает функционирование ЦУ, изображенного на приведенном рисунке. Требуется вычислить синдром этой функции, если в реализующей ее схеме участвуют различные типы элементов C_1n_1входами), C_2n_2входами) и элемента C(с двумя входами). Вычислить синдром сложной функции, если C_1есть элемент И-НЕ с тремя входами, C_2есть элемент ИЛИ с двумя входами, Cесть элемент М2.

    На вход сигнатурного анализатора (СА), схема которого представлена на приведенном рисунке, подается бинарная входная последовательность \varphi(x) Требуется определить сигнатуру последовательности \varphi(x), т.е. содержимое сдвигового регистра (S_3,S_2,S_1), после подачи \varphi(x)на вход СА. Предполагается, что начальное состояние СА нулевое.Определить сигнатуру для последовательности \varphi(x) = 1110101

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.Постройте таблицу неисправностей Т-ТФН для диагностического теста \pi_{13}, \pi_{14} В качестве множества неисправностей использовать множество F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}

    Целесообразно ли при поиске единой маски или множества индивидуальных масок с помощью жадных алгоритмов 1 или 2, описанных в лекциях 31 и 32, к исходной ДИ, представленной в виде СПР, применять какие-либо методы ее предварительного сокращения (к примеру, преобразования СПР в таблицу неисправностей)? Дайте обоснование любого варианта вашего ответа.

    В табл.
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна r битам.Решить задачу при значении Р =  3 и r = 3.

    Статистические данные, полученные в результате экспериментов, показывают, что эффективность сокращения ДИ с помощью хеш-функций в среднем в пять раз выше, чем сокращение с помощью масок. Вместе с тем применение хеш-функций при диагностировании ЦУ в технологическом процессе производства может привести к его замедлению. Назовите возможные причины такого замедления.

    Какие формальные способы построения алфавитов большей значности из исходного алфавита ?

    Какие многозначные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию f^*=\overline {A^*B^*} ?

    Какие алфавиты легко реализуются в конкурентном методе?

    Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме.Какие контрольные точки имеет схема?

    Какая запись цели используется в методе FAN?

    Какой метод моделирования неисправностей используется в третьей фазе эволюционного алгоритма генерации теста?

    Какие виды кроссинговера используются при генерации тестов для последовательностной схемы?

    Какие фазы включает контрольный эксперимент?

    Какие критерии окончания в псевдослучайном методе гене-рации тестов?

    Чем определяется число строк в особи?

    Какую булеву функцию представляет бинарная диаграмма (альтернативный граф), приведенная на рисунке?

    Какие группы операторов используются в языках ЯРП?

    Каким способом, из перечисленных ниже, может быть описано ЦУ на логическом уровне в структурной области: 1) обыкновенные дифференциальные уравнения; 2)электрические схемы, 3) маска; 4) логическая схема ?

    Какую сложность имеет алгоритм обнаружения состязаний в зависимости от числа элементов?

    При каких условиях могут возникнуть индуцированные задержки?

    Как увеличивается время в последовательном моделировании для N_f неисправностей?

    Какое значение сигнала на линии h при неисправности d\equiv 0?

    Какие многозначные значения представляют 4 компоненты вектора F^0=(1 0 1 1 1 1), F^{D'}=(0 0 1 0 1 1), F^{D}=(0 0 0 1 1 0), F^{0}=(0 1 1 1 1 0)?

    Каким символом представляется передний фронт в 6-значном алфавите D_{6}=\{0,1,F0,F1,D,D'\}.

    Что выбирается случайно в псевдослучайном методе по-строения тестов?

    Какие значения соседних входов надо присвоить при акти-визации пути через вентиль И?

    Какая импликация используется в методе PODEM?

    Для какой схемы строится КНФ при построении теста?

    От чего зависит в первую очередь сложность решения задачи выполнимости КНФ?

    Что идентифицирует входная диагностическая последовательность?

    Какие входные последовательности можно использовать на этапе проверки переходов?

    Какие дополнительные условия накладываются на построение тестов с использованием итеративной комбинационной схемы?

    Алфавиты какой значности используются для построения тестов для последовательностных схем?

    Как могут отличаться пары состояний исправной и неисправной схем при кратной стратегии?

    От каких переменных зависят логические выражения в символьном моделировании?

    Чем определяется число столбцов в особи?

    Какие фазы имеет процесс реализации эволюционного алгоритма генерации теста?

    Какие символы присваиваются линиям схемы в структурной импликации?

    Какое значение принимает выход z логического вентиля НЕ-ИЛИ z=\overline {x \vee y} в 5-значном алфавите E_5=\{0,1,E,H,u\} при значениях входов x=H,  y=0?

    В табл.
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна r битам.Решить задачу при значении Р =  5 и r = 3.

    Логическое состязание обусловлено свойствами?

    Как моделируется замыкание двух линий в КМОП-логике?

    Определите методом различающей функции, какой набор явля-ется тестом для неисправности х_{4}\equiv 1 приведенной схемы?

    Какие формулы верны?

    Вычислить и выписать значения перечисленных в условиях задачи функций счета в указанном выше порядке для последовательности R= 11010101110

    Что применяется в проектировании цифровых устройств в поведенческой области на логическом уровне?

    Какой логический элемент моделирует приведенная функциональная модель
    если x1= 1, то y = 1;если x2= 1, то y = 1;если x3= 1, то y = 1;иначе y = 0

    Какое соотношение между дефектом и неисправностью?

    Какие конструкции используются в неисправностях ЯРП?

    Какое булево уравнение необходимо решить для построения теста?

    Какой физический смысл символа \varnothing в 6-значнгом алфавите T_{6}=\{\varnothing ,0,1,D,D',u\}?

    К чему сводится прямая логическая импликация?

    Что необходимо определить для решения задачи с помощью генетического алгоритма?

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in  [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 3.

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.4) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.4) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р =  5 и r = 5.

    Какой код соответствует символу F1?

    Какие кубы из приведенных ниже являются 1-кубами вентиля c=a\&b?

    Для чего нужны теоретико-множественные формулы?

    На рисунке представлены временные диаграммы логического моделирования для вентиля И C=A&B. Какая модель задержки элемента использовалась при моделировании и с какими параметрами?

    Для какого вентиля куб 0^*0^*1^* (abс) является критическим?

    Чему соответствует переход от структурной к физической области на диаграмме Гайского-Кана?

    На каких этапах проводится тестирование?

    Какое правило распространения неисправностей для вентиля f=a\&b\&c при значениях входов a=1, b=1, c=0 ?

    Чем отличается конкурентный метод от дедуктивного?

    На 6-значный алфавит D_{6}=\{0,1,F0,F1,D,D'\}.Какое значение на выходе вентиля И, если его входы имеют значения D_{6  } D и F0.

    Сколько входных наборов генерирует алгоритм критиче-ских путей для каждого выхода схемы?

    Какие виды импликации применяются при построении теста 16-значном алфавите?

    К чему сводятся решение задач с использованием бинарных диаграмм?

    Какое условие окончания генерации теста при использовании конъюнктивной формы различающей функции?

    Какие основные черты методов логического моделирования?

    Какое определение различающей функции верно?

    Какие недостатки интерпретативной модели?

    Пусть сложная функция описывает функционирование ЦУ, изображенного на приведенном рисунке. Требуется вычислить синдром этой функции, если в реализующей ее схеме участвуют различные типы элементов C_1n_1входами), C_2n_2входами) и элемента C(с двумя входами). Вычислить синдром сложной функции, если C_1есть элемент И с двумя входами, C_2есть элемент ИЛИ с тремя входами, Cесть элемент М2.

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена на рисунке, помещенном ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111 Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Требуется построить таблицу ТФН. В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество F=\{ f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}Требуется построить таблицу Т-ТФН. В качестве теста использовать последовательность \pi_{11}, \pi_{12}

    Какая модель применяется для моделирования транзисторов на переключательном уровне?

    Как строится комбинационный эквивалент?

    Что дает использование алфавитов повышенной значности?

    Какие данные используются при вычислении значений фитнесс-функции при построении тестов?

    На вход сигнатурного анализатора (СА), схема которого представлена на приведенном рисунке, подается бинарная входная последовательность \varphi(x) Требуется определить сигнатуру последовательности \varphi(x), т.е. содержимое сдвигового регистра (S_3,S_2,S_1), после подачи \varphi(x)на вход СА. Предполагается, что начальное состояние СА нулевое.Определить сигнатуру для последовательности \varphi(x) = 1011010

    Какие машинные модели схемы ис-пользуются в логическом моделировании?