Ответы на ИНТУИТ

ИНТУИТ ответы на тесты

Решение тестов / курсов
База ответов ИНТУИТ.RU
Заказать решение курсов или тестов:
https://vk.com/id358194635
https://vk.com/public118569203

Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств

Заказать решение
Количество вопросов 341

Какую сложность решения в общем случае имеет задача выполнимости КНФ?

перейти к ответу ->>

Как производится выбор генетического оператора?

перейти к ответу ->>

Какие линии входят в активизированный путь?

перейти к ответу ->>

На рисунке представлены временные диаграммы логического моделирования для вентиля И C=A&B. Какая модель задержки элемента использовалась при моделировании и с какими параметрами?

перейти к ответу ->>

Какой размер имеет zoom таблица для t типов элементов с S входами?

перейти к ответу ->>

Как соотносятся список дедуктивного метода и суперсписок конкурентного метода?

перейти к ответу ->>

На вход сигнатурного анализатора (СА), схема которого представлена на приведенном рисунке, подается бинарная входная последовательность \varphi(x) Требуется определить сигнатуру последовательности \varphi(x), т.е. содержимое сдвигового регистра (S_3,S_2,S_1), после подачи \varphi(x)на вход СА. Предполагается, что начальное состояние СА нулевое.Определить сигнатуру для последовательности \varphi(x) = 1010111

перейти к ответу ->>

В табл.
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна r битам.Решить задачу при значении Р =  5 и r = 5.

перейти к ответу ->>

При переходе на многозначный алфавит сколько вентилей используется при моделировании логического элемента?

перейти к ответу ->>

Что лежит в основе статического сжатия теста?

перейти к ответу ->>

Можно ли удалять отдельные переменные из КНФ?

перейти к ответу ->>

Какое булево уравнение необходимо решить при построении теста для неисправности константной неисправности h_{i}\equiv 0 ?

перейти к ответу ->>

Какие значения соседних входов надо присвоить при акти-визации пути через вентиль НЕ-ИЛИ?

перейти к ответу ->>

Как моделируется замыкание двух линий в ТТЛ логике?

перейти к ответу ->>

Какой физический смысл символа D в 6-значнгом алфавите T_{6}=\{\varnothing ,0,1,D,D',u\}?

перейти к ответу ->>

Какие одиночные константные неисправности вентиля f=a+b+c+d проверяет входной набор a=0,b=0,c=1,d=0?

перейти к ответу ->>

Что составляет основу в методе покрытия путей в бинарной диаграмме?

перейти к ответу ->>

Что является целью тестирования на этапе производства?

перейти к ответу ->>

Чем отличается устойчивый тест от неустойчивого для неисправности "задержка" ?

перейти к ответу ->>

Какой метод генерации тестов комбинационных схем можно применять для построения теста для последовательностных схем на основе итеративной комбинационной схемы?

перейти к ответу ->>

Какие дополнительные действия необходимы в моделировании неисправностей по сравнению с моделированием исправных схем?

перейти к ответу ->>

Какие преимущества двухпроходного событийного алгоритма моделирования?

перейти к ответу ->>

Сколько проходов параллельного моделирования необходимо для неисправностей на p-разрядном инструментальном компьютере?

перейти к ответу ->>

По какому критерию производится выбор входа для вентиля И в процедуре обратного распространения?

перейти к ответу ->>

Какую выходную реакцию y выдает автомат, представленный на рисунке, на входную последовательность x=110 при начальном состоянии s=2 ?

перейти к ответу ->>

Чему соответствует в приведенной схеме строка таблицы ?
Испр.a 0b 1c 1d 0e 1f 0f 1
a=110111111
b=000100000
c=000010000
d=111110111
f=a\&b00100001
g=f\vee c00110001
h=c\&d00010000
e=000000100
i=e\vee h00010100
j=g\vee i00110101

перейти к ответу ->>

В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций Т(h), если длина свертки равна r битам.
НеисправностьРеакции ДУ на тест
f_1101100110011101
f_2101110111001110
f_3101100110011100
f_4101001011001110
f_5101100110010001
f_6101101110011101
f_7101110110011001
f_8100101110010111
Решить задачу при значении Р =  5 и r = 5.

перейти к ответу ->>

Чем отличаются области проектирования от уровней моделирования?

перейти к ответу ->>

Какая фитнесс-функция используется при оценке входного набора в системе АСМИД?

перейти к ответу ->>

Какая КНФ соответствует приведенной схеме?

перейти к ответу ->>

Какие области представления используются в проектировании цифровых устройств?

перейти к ответу ->>

Что применяется в проектировании цифровых устройств в поведенческой области на схемном уровне?

перейти к ответу ->>

В какой области раньше была решена задача автоматизация синтеза?

перейти к ответу ->>

Какую булеву функцию представляет приведенная таблица истинности?

перейти к ответу ->>

Какую булеву функцию представляет бинарная диаграмма (альтернативный граф), приведенная на рисунке?

перейти к ответу ->>

Какую выходную реакцию y выдает автомат, представленный на рисунке, на входную последовательность x=010 при начальном состоянии s=3 ?

перейти к ответу ->>

Какая информация содержится в структурной модели цифрового устройства?

перейти к ответу ->>

Какие производственные задачи решаются с помощью логического моделирования из перечисленных ниже:
  • изготовление ЦУ;
  • проверка логики функционирования;
  • размещение логических элементов;
  • трассировка соединений;
  • поиск неисправностей;
  • анализ состязаний сигналов;
  • определение временных характеристик;
  • выборочный контроль
  • перейти к ответу ->>

    Какие типы машинных моделей используются в логическом моделировании?

    перейти к ответу ->>

    Какой физический смысл имеет символ u 3-значного алфавита E_3=\{0,1,u\}?

    перейти к ответу ->>

    Какой физический смысл имеет символ E 5-значного алфавита E_5=\{0,1,E,H,u\}?

    перейти к ответу ->>

    Какое значение принимает выход z логического вентиля НЕ-ИЛИ z=\overline {x \vee y} в 5-значном алфавите E_5=\{0,1,E,H,u\} при значениях входов x=H,  y=E ?

    перейти к ответу ->>

    Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию f^*=\overline {A^*B^*}?

    перейти к ответу ->>

    На рисунке представлены временные диаграммы логического моделирования для вентиля И C=A&B. Какая модель задержки элемента использовалась при моделировании и с какими параметрами?

    перейти к ответу ->>

    Чем отличается событийное модели-рование от сквозного?

    перейти к ответу ->>

    Какие преимущества интерпретатив-ной модели?

    перейти к ответу ->>

    Чем обусловлено явление со-стязаний сигналов?

    перейти к ответу ->>

    На переходе x_1=1, x_2=1, x_3=1, x_4=0  ->  x_1=0, x_2=0, x_3=0, x_4=0 карты Карно, представленной на рисунке содержатся состязания:

    перейти к ответу ->>

    Сколько этапов имеет алгоритм обнаружения состязаний Эйхельбергера?

    перейти к ответу ->>

    Какой физический смысл имеет символ D* универсального 16-значного алфавита B_{16} ?

    перейти к ответу ->>

    Какую алгебраическую структуру образуют основные многозначные алфавиты?

    перейти к ответу ->>

    Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию f^*=\overline {A^*\vee B^*} ?

    перейти к ответу ->>

    Какие алфавиты используются для анализа состязаний?

    перейти к ответу ->>

    Какие из приведенных ниже дефектов характерны для интегральных схем?

    перейти к ответу ->>

    Что характеризует неисправность "задержка"?

    перейти к ответу ->>

    Какие одиночные константные неисправности вентиля f=a\&b\&c\&d проверяет входной набор a=1,b=0,c=1,d=1?

    перейти к ответу ->>

    Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме.Какие неисправности прилагаемой схемы эквивалентны?

    перейти к ответу ->>

    Как моделируется замыкание двух линий в ЭСЛ логике?

    перейти к ответу ->>

    Какие неисправности используются на переключательном уровне?

    перейти к ответу ->>

    Сколько входных набров используется для тестирования неисправности "задержка"?

    перейти к ответу ->>

    Какие перекрестные помехи рассматриваются?

    перейти к ответу ->>

    Что необходимо для моделирования неисправностей?

    перейти к ответу ->>

    Что проще реализовать в последовательном моделировании для неисправностей?

    перейти к ответу ->>

    Сколько неисправностей моделируется в параллельном методе на p-разрядном инструментальном компьютере?

    перейти к ответу ->>

    Какое значение сигнала на линии j при неисправности g\equiv 1?

    перейти к ответу ->>

    Как увеличиваются затраты памяти параллельного метода при переходе на троичный алфавит?

    перейти к ответу ->>

    Сколько машинных слов выделяется одной линии в многозначном моделировании неисправностей?

    перейти к ответу ->>

    Какие неисправности содержит список?

    перейти к ответу ->>

    Какое правило распространения неисправностей для вентиля f=a\&b\&c при значениях входов a=1, b=1, c=1 ?

    перейти к ответу ->>

    При переходе на троичный алфавит сколько вентилей используется при моделировании логического элемента?

    перейти к ответу ->>

    Какие методы вычисления значений выходных сигналов элементов можно использовать в конкурентном методе?

    перейти к ответу ->>

    Какой физический смысл имеет символ D?

    перейти к ответу ->>

    Какой стандартной неисправности соответствует неисправность "задержка переднего фронта" при большом времени перехода.

    перейти к ответу ->>

    Какой физический смысл имеет символ F0 5-значного алфавита D_{5}=\{0,1,F0,F1,u\}?

    перейти к ответу ->>

    На 6-значный алфавит D_{6}=\{0,1,F0,F1,D,D'\}.Какое значение на выходе вентиля И, если его входы имеют значения D_{6  } F1 и D'.

    перейти к ответу ->>

    Каким символом представляется задний фронт в 6-значном алфавите D_{6}=\{0,1,F0,F1,D,D'\}.

    перейти к ответу ->>

    Что "прослеживается" в методе обратного прослеживания?

    перейти к ответу ->>

    Что определяет с1(n) - управляемость линии n в STAFAN?

    перейти к ответу ->>

    Какую сложность имеет метод STAFAN? В зависимости от числа линий схемы N

    перейти к ответу ->>

    Какие аспекты имеет генерация тестов?

    перейти к ответу ->>

    С какой вероятностью генерирются 0,1-сигналы для каждо-го входа?

    перейти к ответу ->>

    В каком направлении строятся критические пути?

    перейти к ответу ->>

    Определите методом различающей функции, какой набор является тестом для неисправности х_{1}\equiv 1 приведенной схемы?

    перейти к ответу ->>

    Какое определение булевой производной верно?

    перейти к ответу ->>

    Определите методом различающей функции, какой набор явля-ется тестом для неисправности х_{2}\equiv 0 приведенной схемы?

    перейти к ответу ->>

    Определите методом активизации одномерных путей, какой на-бор является тестом для неисправности х_{4}\equiv 1 приведенной схемы?

    перейти к ответу ->>

    Какие этапы имеют методы генерации тестов в многозначных алфавитах?

    перейти к ответу ->>

    Какие кубы из приведенных ниже являются 0-кубами вентиля c=a\&b?

    перейти к ответу ->>

    По какому критерию производится выбор вентиля в D-границе в методе PODEM?

    перейти к ответу ->>

    На каком этапе возможен конфликт в методе PODEM?

    перейти к ответу ->>

    Что дает разбиение схемы на одновыходные древовидные подсхемы?

    перейти к ответу ->>

    Что дает использование процедуры кратного обратного распространение в методе SOCRATES?

    перейти к ответу ->>

    Какие алфавиты повышенной значности используются при генерации тестов?

    перейти к ответу ->>

    Какая операция является основной при построении теста в 16-значном алфавите?

    перейти к ответу ->>

    Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля (Z=X\oplus Y) при преобразовании в КНФ?

    перейти к ответу ->>

    Какая КНФ соответствует приведенной схеме?

    перейти к ответу ->>

    При каком числе термов в дизъюнктах задача выполнимости КНФ имеет полиномиальную сложность?

    перейти к ответу ->>

    Что можно внести в КНФ для учета нелокальной импликации?

    перейти к ответу ->>

    При решении каких задач можно использовать бинарные диаграммы?

    перейти к ответу ->>

    Как используются бинарные диаграммы при построении тестов?

    перейти к ответу ->>

    Чем отличаются в "боковые эффекты" от основных экспериментов?

    перейти к ответу ->>

    Чем отличается прямое различающее дерево от дерева преемников состояний?

    перейти к ответу ->>

    Что определяет в прямом различающем дереве тестовую последовательность?

    перейти к ответу ->>

    Что делает синхронизирующая входная последовательность?

    перейти к ответу ->>

    Какие входные последовательности можно использовать на этапе инициализации?

    перейти к ответу ->>

    Как соединяются комбинационные эквиваленты в итеративную комбинационную схему?

    перейти к ответу ->>

    Какие виды импликации используются при построении тестов в 16-значном алфавите?

    перейти к ответу ->>

    Чем определяется число комбинационных эквивалентов в итеративной комбинационной схеме?

    перейти к ответу ->>

    Как должны отличаться пары состояний исправной и неисправной схем при одиночной стратегии?

    перейти к ответу ->>

    Что соответствует терму различающей функции?

    перейти к ответу ->>

    На каких принципах основаны эволюционные вычисления?

    перейти к ответу ->>

    Как реализуется репродукция?

    перейти к ответу ->>

    От каких параметров зависит эффективность генетического алгоритма?

    перейти к ответу ->>

    Как можно определить особь при генерации тестов для комбинационной схемы?

    перейти к ответу ->>

    Как можно определить особь при генерации тестов для последовательностной схемы?

    перейти к ответу ->>

    Какие виды мутации используются при генерации тестов для последовательностной схемы?

    перейти к ответу ->>

    Какая фитнесс-функция используется при оценке тестовой последовательности в системе АСМИД?

    перейти к ответу ->>

    Какой критерий используется при окончании фазы 2 генерации теста?

    перейти к ответу ->>

    Для заданных выходных бинарных последовательностей Rвычислить значения функций счета S_0^1(R), S_1^{(\ne)}(R),S_1^{(\equiv)}(R),S_1^{(01)}(R)иS_1^{(10)}(R)Вычислить и выписать значения перечисленных в условиях задачи функций счета в указанном выше порядке для последовательности R=1001011001

    перейти к ответу ->>

    Пусть сложная функция описывает функционирование ЦУ, изображенного на приведенном рисунке. Требуется вычислить синдром этой функции, если в реализующей ее схеме участвуют различные типы элементов C_1n_1входами), C_2n_2входами) и элемента C(с двумя входами). Вычислить синдром сложной функции, если C_1есть элемент И-НЕ с четырьмя входами, C_2есть элемент ИЛИ-НЕ с двумя входами, Cесть элемент И.

    перейти к ответу ->>

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111 Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Требуется построить таблицу ТФН. В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество F=\{f_1,f_2,f_3\} Здесь f_1- Const 1 на входе 3, f_2- Const 1 на входе 2, f_3- Const 0 на входе 2.

    перейти к ответу ->>

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111 Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Требуется построить таблицу ТФН. В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество F=\{f_1,f_2,f_3\} Здесь f_1- Const 1 на входе 3, f_2- Const 1 на входе 2, f_3- Const 0 на входе 2. В качестве теста использовать последовательность \pi_{10}, \pi_{11}Для множества F требуется построить таблицу Т-ТФН.

    перейти к ответу ->>

    Является ли тест \pi_{10}, \pi_{12}диагностическим для множества неисправностей F=\{ f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}?

    перейти к ответу ->>

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.Постройте таблицу обнаружения неисправностей для диагностического теста \pi_{13}, \pi_{14} В качестве множества неисправностей использовать множество F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}

    перейти к ответу ->>

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.Используя Т-ТФН, построенную для ЦУ-1, постройте словарь неисправностей с ориентацией на выходы для диагностического теста \pi_{13}, \pi_{14} В качестве множества неисправностей использовать множество F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\} Предполагается, что выход 1-это линия 10, а выход 2- это линия 11 ЦУ-1.

    перейти к ответу ->>

    Представленная ниже таблица - словарь полной реакции (СПР) некоторого ЦУ на тест T_1,T_2,T_3,T_4 Пусть S- разбиение множества состояний ЦУ (s_0- исправное ЦУ, s_i- ЦУ с i-ой неисправностью), а s_j- элементы этого разбиения. Каждому состоянию S_jсоответствует маска h_j, и пусть H- множество всех масок h_j Предполагается, что каждое S_jсодержит одно состояние s_jТребуется построить СПР_Ндля различных типов масок (общих и индивидуальных) при заданном множестве H
    T_1T_2T_3T_4
    s_011001110
    s_110101110
    s_200001110
    s_300000010
    s_401000010
    s_501000110
    s_601000100
    s_710001010
    s_811111110
    Построить СПР_Н, где множество Hсодержит следующие маски:h_0=h_1=\{1:1,2:1,3:1,4:2\},h_2=\{2:2,4:1\},h_3=h_4=h_5=\{3:2,4:1\},h_6=\{1:2,3:2,4:2\},h_7=\{3:2\},h_8=\{1:2,2:1,4:1\}

    перейти к ответу ->>

    Жадный алгоритм поиска масок, описанный в лекции 31,базируется на применении конструкции дерева решений. Проиллюстрируйте конструкцию классического дерева решений для решения следующей задачи: имеется 8 одинаковых монет, среди которых одна фальшивая (она легче, чем стандартная). Монеты пронумерованы числами 1,2,…,8. Требуется найти фальшивую монету, используя равновесные весы с двумя чашками (пусть левая чашка имеет №1, правая - №2).

    перейти к ответу ->>

    Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\}- множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска масок, изложенный в лекции 31, найти для заданного СПР единую маску минимального объема.Решить задачу для СПР, заданного табл.
    T_1T_2T_3T_4
    s_010011110
    s_110101110
    s_200111110
    s_300000011
    s_401001010
    s_501000110
    s_601000100
    s_710001010
    s_811111110

    перейти к ответу ->>

    Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\} - множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска индивидуальных масок, изложенный в лекции 32, найти для заданного СПР множество индивидуальных масок минимального суммарного объема. Решить задачу для СПР, заданного табл.
    T_1T_2T_3T_4
    s_010011110
    s_110101110
    s_200111110
    s_300000011
    s_401001010
    s_501000110
    s_601000100
    s_710001010
    s_811111110

    перейти к ответу ->>

    В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций Т(h), если длина свертки равна r битам.
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    Решить задачу при значении Р = 3 и r = 3.

    перейти к ответу ->>

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in  [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р =  3 и r = 3.

    перейти к ответу ->>

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.4) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.4) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р =  3 и r = 3.

    перейти к ответу ->>

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.5) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.5) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r], представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 3.

    перейти к ответу ->>

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.5) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.5) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r], представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р =  5 и r = 5.

    перейти к ответу ->>

    Какие из приведенных ниже дефектов характерны для плат?

    перейти к ответу ->>

    Что содержит элемент очереди будущих событий?

    перейти к ответу ->>

    Представленная ниже таблица - словарь полной реакции (СПР) некоторого ЦУ на тест T_1,T_2,T_3,T_4 Пусть S- разбиение множества состояний ЦУ (s_0- исправное ЦУ, s_i- ЦУ с i-ой неисправностью), а s_j- элементы этого разбиения. Каждому состоянию S_jсоответствует маска h_j, и пусть H- множество всех масок h_j Предполагается, что каждое S_jсодержит одно состояние s_jТребуется построить СПР_Ндля различных типов масок (общих и индивидуальных) при заданном множестве H
    T_1T_2T_3T_4
    s_011001110
    s_110101110
    s_200001110
    s_300000010
    s_401000010
    s_501000110
    s_601000100
    s_710001010
    s_811111110
    Построить СПР_Н, где множество Hсодержит единую (общую) маску для всех s_jи эта маска h=\{1:1,2:1,3:1,4:1\}

    перейти к ответу ->>

    От каких параметров может зависеть фитнесс-функция при ? при генерации тестов для последовательностных схем?

    перейти к ответу ->>

    Чем отличается процедура продвижения назад в методе FAN?

    перейти к ответу ->>

    Какие компоненты включает система генерации тестов?

    перейти к ответу ->>

    Чем отличаются одиночная и кратная стратегии наблюдения выходных сигналов?

    перейти к ответу ->>

    Что является главным в операторе кроссинговера?

    перейти к ответу ->>

    Какой физический смысл имеет символ F1 5-значного алфавита D_{5}=\{0,1,F0,F1,u\}.

    перейти к ответу ->>

    Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию f^*=\overline A^*B^* ?

    перейти к ответу ->>

    Как можно определить фитнесс-функцию при генерации тестов для комбинационной схемы?

    перейти к ответу ->>

    Какое правило распространения неисправностей для вентиля f=a\&b при кодированных значениях входов a^{0}=0, a^{1}=1, b^{0}=0, b^{1}=1?

    перейти к ответу ->>

    Что применяется в проектировании цифровых устройств в структурной области на схемном уровне?

    перейти к ответу ->>

    На переходе x_1=1, x_2=0, x_3=0, x_4=0  ->  x_1=1, x_2=0, x_3=1, x_4=1 карты Карно, представленной на рисунке содержатся состязания:

    перейти к ответу ->>

    Какие дефекты может моделировать константная неисправность?

    перейти к ответу ->>

    Что дает использование процедуры уникальной активизации в методе SOCRATES?

    перейти к ответу ->>

    Какое значение сигнала на линии f при неисправности b\equiv 1?

    перейти к ответу ->>

    Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию f^*=\overline A^*B^*?

    перейти к ответу ->>

    Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\} - множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска индивидуальных масок, изложенный в лекции 32, найти для заданного СПР множество индивидуальных масок минимального суммарного объема. Решить задачу для СПР, заданного табл.
    T_1T_2T_3T_4
    s_001100100
    s_100010010
    s_200001011
    s_301001010
    s_411011110
    s_510001010
    s_610011101
    s_710001110
    s_801000110

    перейти к ответу ->>

    Какое правило распространения неисправностей для вентиля f=a \vee b c при значениях входов a=0, b=0, c=0 ?

    перейти к ответу ->>

    Что определяет в_{0}(n)- 0-наблюдаемость линии n в STAFAN?

    перейти к ответу ->>

    Оценивается вероятность обнаружения неисправности const1 на линии n?

    перейти к ответу ->>

    Какие этапы имеет метод активизации одномерных путей?

    перейти к ответу ->>

    На чем основаны методы построения идентифицирующих и тестовых последовательностей в экспериментах над автоматами?

    перейти к ответу ->>

    Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля (Z=X\vee Y) при преобразовании в КНФ?

    перейти к ответу ->>

    Чем обусловлена задержка сигнала в модели "задержка вентиля"?

    перейти к ответу ->>

    Вычислить и выписать значения перечисленных в условиях задачи функций счета в указанном выше порядке для последовательности R=11010100010

    перейти к ответу ->>

    Какое значение принимает выход z логического вентиля НЕ-И z=\overline {x&y} в 5-значном алфавите E_5=\{0,1,E,H,u\} при значениях входов x=1,  y=E ?

    перейти к ответу ->>

    Какие уровни представления применяются в проектировании цифровых устройств?

    перейти к ответу ->>

    Как отражается синтез цифровых устройств на диаграмме Гайского-Кана?

    перейти к ответу ->>

    Какую булеву функцию представляет приведенная таблица истинности?

    перейти к ответу ->>

    Какую булеву функцию представляет бинарная диаграмма (альтернативный граф), приведенная на рисунке?

    перейти к ответу ->>

    Как могут быть описаны конечные автоматы в ЯРП?

    перейти к ответу ->>

    Какие компоненты из перечисленных входят в структуру системы логического моделировании:

    перейти к ответу ->>

    Какой физический смысл имеет символ 0 3-значного алфавита E_3=\{0,1,u\}?

    перейти к ответу ->>

    Какой физический смысл имеет символ u 5-значного алфавита E_5=\{0,1,E,H,u\}?

    перейти к ответу ->>

    Какие преимущества компиля-тивной модели?

    перейти к ответу ->>

    Какие используются способы модели-рования временного механизма?

    перейти к ответу ->>

    На переходе x_1=1, x_2=1, x_3=1, x_4=0  ->  x_1=0, x_2=1, x_3=1, x_4=0 карты Карно, представленной на рисунке содержатся состязания:

    перейти к ответу ->>

    Какой алфавит сигналов использует метод Эйхельбергера?

    перейти к ответу ->>

    Какой физический смысл имеет символ G0 универсального 16-значного алфавита B_{16} ?

    перейти к ответу ->>

    Какой алфавит используется для моделирования шинных структур ?

    перейти к ответу ->>

    Какие многозначные алфавиты применяются при генерации тестов?

    перейти к ответу ->>

    Что характеризует константную неисправность?

    перейти к ответу ->>

    Какие наводки превалируют в субмикронных технологиях?

    перейти к ответу ->>

    Где используется логическое моделирование?

    перейти к ответу ->>

    Как изменяются затраты памяти последовательном моделировании для N_f неисправностей?

    перейти к ответу ->>

    Какие неисправности проверяются на приведенной таблице?

    перейти к ответу ->>

    Что повышает скорость вычислений значений элемента в многозначном алфавите?

    перейти к ответу ->>

    С чем ассоциируется список неисправностей в конкурентном методе?

    перейти к ответу ->>

    Какой многозначный алфавит использует метод Test-Detect?

    перейти к ответу ->>

    Сколько входных наборов используется для тестирования неисправности "задержка"?

    перейти к ответу ->>

    На 6-значный алфавит D_{6}=\{0,1,F0,F1,D,D'\}.Какое значение на выходе вентиля И, если его входы имеют значения D_{6  } D' и D.

    перейти к ответу ->>

    Какие значения сигналов после моделирования должны иметь линии - кандидаты на включение в проверяемые пути?

    перейти к ответу ->>

    Какие значения сигналов после моделирования должны иметь линии - кандидаты на включение в проверяемые пути?

    перейти к ответу ->>

    Какие методы генерации тестов используются на начальном этапе?

    перейти к ответу ->>

    Когда входной набор включается в тест?

    перейти к ответу ->>

    Для какого вентиля куб 1^*1^*1^* (abс) является критическим?

    перейти к ответу ->>

    Определите методом активизации одномерных путей, какой набор является тестом для неисправности х_{2}\equiv 0 приведенной схемы?

    перейти к ответу ->>

    Какие действия выполняются при возникновении конфликта в методе PODEM?

    перейти к ответу ->>

    Что дает использование более крупных примитивов в методе SOCRATES?

    перейти к ответу ->>

    Какой физический смысл имеет символ G0 в 10-значном алфавите?

    перейти к ответу ->>

    На каких уровнях проектирования можно использовать бинарные диаграммы?

    перейти к ответу ->>

    Какие модели неисправностей ориентированы на бинарные диаграммы?

    перейти к ответу ->>

    Какие основные подходы используются при построении тестов для цифровых схем с памятью?

    перейти к ответу ->>

    Что определяет в обратном различающем дереве тестовую последовательность?

    перейти к ответу ->>

    Что идентифицирует входная установочная последовательность?

    перейти к ответу ->>

    Чему соответствует комбинационный эквивалент?

    перейти к ответу ->>

    Какие фазы включает контрольный эксперимент?

    перейти к ответу ->>

    Что учитывается в процессе структурной импликации?

    перейти к ответу ->>

    Что присваивается линиям схемы в процессе символьного моделирования?

    перейти к ответу ->>

    Что представляет особь в генетическом алгоритме?

    перейти к ответу ->>

    Что является основным в операторе мутации?

    перейти к ответу ->>

    В каком порядке выполняются генетические операторы в простом генетическом алгоритме?

    перейти к ответу ->>

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111 Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Требуется построить таблицу ТФН. В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество F=\{f_4,f_5,f_6\} Здесь f_4- Const 1 на выходе 7, f_5- Const 0 на выходе 8, f_6- Const 0 на выходе 9.

    перейти к ответу ->>

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена на рисунке, помещенном ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111 Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Требуется построить таблицу ТФН. В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество F=\{f_4,f_5,f_6\} Здесь f_4- Const 1 на выходе 7, f_5- Const 0 на выходе 8, f_6- Const 0 на выходе 9. В качестве теста использовать последовательность \pi_{10}, \pi_{11} Для множества F требуется построить таблицу Т-ТФН.

    перейти к ответу ->>

    Позволяет ли входная последовательность \pi_{13}, \pi_{14}обнаруживать в ЦУ, представленном в задаче 4, неисправности из множества F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}?

    перейти к ответу ->>

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.Постройте словарь неисправностей с использованием компактных сверток по выходу для диагностического теста \pi_{13}, \pi_{14} В качестве множества неисправностей использовать F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\} Предполагается, что выход 1-это линия 10, а выход 2- это линия 11 ЦУ-1.

    перейти к ответу ->>

    Можно ли задачу сокращения диагностической информации свести к классической задаче о классификации объектов?

    перейти к ответу ->>

    Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где S=\{s_0,s_1,\ldots,s_r\}- множество технических состояний ЦУ, T_1, T_2, T_3, T_4- диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска масок, изложенный в лекции 31, найти для заданного СПР единую маску минимального объема.Решить задачу для СПР, заданного табл
    T_1T_2T_3T_4
    s_001100100
    s_100010010
    s_200001011
    s_301001010
    s_411011110
    s_510001010
    s_610011101
    s_710001110
    s_801000110

    перейти к ответу ->>

    В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций Т(h), если длина свертки равна r битам.
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    Решить задачу при значении Р =  5 и r = 3.

    перейти к ответу ->>

    Что дает сжатие тестов?

    перейти к ответу ->>

    Какие троичные значения представляют 2 компоненты троичного вектора B^0=(0 1 1 1 0), B^1= (0 0 1 0 1)?

    перейти к ответу ->>

    Определите методом различающей функции, какой набор явля-ется тестом для неисправности х_{1}\equiv 1 приведенной схемы?

    перейти к ответу ->>

    Какими процедурами отличается метод PODEM от D-алгоритма?

    перейти к ответу ->>

    Чем характеризуется гомогенная А-группа?

    перейти к ответу ->>

    Какой физический смысл имеет символ Е универсального 16-значного алфавита B_{16} ?

    перейти к ответу ->>

    Что нужно внести в КНФ для учета информации об активизированных путях?

    перейти к ответу ->>

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.5) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.5) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r], представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р =  3 и r = 3.

    перейти к ответу ->>

    Какие пути активизируют 0-эксперименты в бинарных диаграммах?

    перейти к ответу ->>

    Какую булеву функцию представляет приведенная таблица истинности?

    перейти к ответу ->>

    Что позволяет восстановить контрольный эксперимент?

    перейти к ответу ->>

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in  [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р =  5 и r = 5.

    перейти к ответу ->>

    Какие недостатки компилятивной мо-дели?

    перейти к ответу ->>

    Какой физический смысл имеет символ H 5-значного алфавита E_5=\{0,1,E,H,u\}?

    перейти к ответу ->>

    Каким способом, из перечисленных ниже, может быть описано ЦУ на логическом уровне в поведенческой области: 1)системные спецификации; 2)макроячейки,;3) булевы функции; 4) ЯРП?

    перейти к ответу ->>

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.4) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.4) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 3.

    перейти к ответу ->>

    Какой символ B_{4} на выходе показывает проверямость неисправности?

    перейти к ответу ->>

    Определите методом активизации одномерных путей, какой на-бор является тестом для неисправности х_{1}\equiv 1 приведенной схемы?

    перейти к ответу ->>

    Что является целью тестирования на этапе диагностики и восстановления?

    перейти к ответу ->>

    Какую выходную реакцию y выдает автомат, представленный таблицей, на входную последовательность x=011 при начальном состоянии s=1 ?
    SX
    01
    12,13,0
    22,14,0
    31,04,0
    43,12,0

    перейти к ответу ->>

    Какие ситуации отражает символ u 3-значного алфавита E_3=\{0,1,u\}?

    перейти к ответу ->>

    Какие преимущества дает zoom таблица?

    перейти к ответу ->>

    Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию f^*=\overline {A^*\vee B^*}?

    перейти к ответу ->>

    Чем отличается однопроходной алгоритм событийного моделирования от двухпроходного?

    перейти к ответу ->>

    Чем отличается динамическое состяза-ние от статического?

    перейти к ответу ->>

    Что характеризует транзисторные неисправности?

    перейти к ответу ->>

    Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме.Какие одиночные константные неисправности схемы находятся в отношении доминирования?

    перейти к ответу ->>

    Какие отказы характерны для МОП-технологии?

    перейти к ответу ->>

    Чем обусловлена задержка сигнала в модели "задержка пути"?

    перейти к ответу ->>

    Как вносится влияние неисправностей в параллельном методе?

    перейти к ответу ->>

    Как падает быстродействие параллельного метода при переходе на троичный алфавит?

    перейти к ответу ->>

    Чему соответствует в схеме список неисправностей в дедуктивном методе моделирования неисправностей?

    перейти к ответу ->>

    Какие основные процедуры в конкурентном методе?

    перейти к ответу ->>

    Какие значения сигналов после моделирования должны иметь линии - кандидаты на включение в проверяемые пути?

    перейти к ответу ->>

    Какие счетчики определяются для каждой линии схемы в STAFAN?

    перейти к ответу ->>

    Оценивается вероятность обнаружения неисправности const0 на линии n?

    перейти к ответу ->>

    Какие кубы из приведенных ниже являются D-кубами вентиля c=a\&b?

    перейти к ответу ->>

    Как выполняется импликация в методе PODEM?

    перейти к ответу ->>

    Какая импликация используется в методе FAN?

    перейти к ответу ->>

    Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля (Z=X\cdot Y) при преобразовании в КНФ?

    перейти к ответу ->>

    К чему может привести неисправность в бинарной диаграмме?

    перейти к ответу ->>

    Что лежит в основе динамического сжатия тестов?

    перейти к ответу ->>

    Что дает увеличение значности алфавита при построении теста?

    перейти к ответу ->>

    Какое условие окончания генерации теста при использовании дизъюнктивной формы различающей функции?

    перейти к ответу ->>

    Какие основные операторы используются в генетическом алгоритме?

    перейти к ответу ->>

    Пусть сложная функция описывает функционирование ЦУ, изображенного на приведенном рисунке. Требуется вычислить синдром этой функции, если в реализующей ее схеме участвуют различные типы элементов C_1n_1входами), C_2n_2входами) и элемента C(с двумя входами). Вычислить синдром сложной функции, если C_1есть элемент И-НЕ с тремя входами, C_2есть элемент ИЛИ с двумя входами, Cесть элемент М2.

    перейти к ответу ->>

    На вход сигнатурного анализатора (СА), схема которого представлена на приведенном рисунке, подается бинарная входная последовательность \varphi(x) Требуется определить сигнатуру последовательности \varphi(x), т.е. содержимое сдвигового регистра (S_3,S_2,S_1), после подачи \varphi(x)на вход СА. Предполагается, что начальное состояние СА нулевое.Определить сигнатуру для последовательности \varphi(x) = 1110101

    перейти к ответу ->>

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.Постройте таблицу неисправностей Т-ТФН для диагностического теста \pi_{13}, \pi_{14} В качестве множества неисправностей использовать множество F =\{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}

    перейти к ответу ->>

    Целесообразно ли при поиске единой маски или множества индивидуальных масок с помощью жадных алгоритмов 1 или 2, описанных в лекциях 31 и 32, к исходной ДИ, представленной в виде СПР, применять какие-либо методы ее предварительного сокращения (к примеру, преобразования СПР в таблицу неисправностей)? Дайте обоснование любого варианта вашего ответа.

    перейти к ответу ->>

    В табл.
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна r битам.Решить задачу при значении Р =  3 и r = 3.

    перейти к ответу ->>

    Статистические данные, полученные в результате экспериментов, показывают, что эффективность сокращения ДИ с помощью хеш-функций в среднем в пять раз выше, чем сокращение с помощью масок. Вместе с тем применение хеш-функций при диагностировании ЦУ в технологическом процессе производства может привести к его замедлению. Назовите возможные причины такого замедления.

    перейти к ответу ->>

    Какие формальные способы построения алфавитов большей значности из исходного алфавита ?

    перейти к ответу ->>

    Какие многозначные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию f^*=\overline {A^*B^*} ?

    перейти к ответу ->>

    Какие алфавиты легко реализуются в конкурентном методе?

    перейти к ответу ->>

    Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме.Какие контрольные точки имеет схема?

    перейти к ответу ->>

    Какая запись цели используется в методе FAN?

    перейти к ответу ->>

    Какой метод моделирования неисправностей используется в третьей фазе эволюционного алгоритма генерации теста?

    перейти к ответу ->>

    Какие виды кроссинговера используются при генерации тестов для последовательностной схемы?

    перейти к ответу ->>

    Какие фазы включает контрольный эксперимент?

    перейти к ответу ->>

    Какие критерии окончания в псевдослучайном методе гене-рации тестов?

    перейти к ответу ->>

    Чем определяется число строк в особи?

    перейти к ответу ->>

    Какую булеву функцию представляет бинарная диаграмма (альтернативный граф), приведенная на рисунке?

    перейти к ответу ->>

    Какие группы операторов используются в языках ЯРП?

    перейти к ответу ->>

    Каким способом, из перечисленных ниже, может быть описано ЦУ на логическом уровне в структурной области: 1) обыкновенные дифференциальные уравнения; 2)электрические схемы, 3) маска; 4) логическая схема ?

    перейти к ответу ->>

    Какую сложность имеет алгоритм обнаружения состязаний в зависимости от числа элементов?

    перейти к ответу ->>

    При каких условиях могут возникнуть индуцированные задержки?

    перейти к ответу ->>

    Как увеличивается время в последовательном моделировании для N_f неисправностей?

    перейти к ответу ->>

    Какое значение сигнала на линии h при неисправности d\equiv 0?

    перейти к ответу ->>

    Какие многозначные значения представляют 4 компоненты вектора F^0=(1 0 1 1 1 1), F^{D'}=(0 0 1 0 1 1), F^{D}=(0 0 0 1 1 0), F^{0}=(0 1 1 1 1 0)?

    перейти к ответу ->>

    Каким символом представляется передний фронт в 6-значном алфавите D_{6}=\{0,1,F0,F1,D,D'\}.

    перейти к ответу ->>

    Что выбирается случайно в псевдослучайном методе по-строения тестов?

    перейти к ответу ->>

    Какие значения соседних входов надо присвоить при акти-визации пути через вентиль И?

    перейти к ответу ->>

    Какая импликация используется в методе PODEM?

    перейти к ответу ->>

    Для какой схемы строится КНФ при построении теста?

    перейти к ответу ->>

    От чего зависит в первую очередь сложность решения задачи выполнимости КНФ?

    перейти к ответу ->>

    Что идентифицирует входная диагностическая последовательность?

    перейти к ответу ->>

    Какие входные последовательности можно использовать на этапе проверки переходов?

    перейти к ответу ->>

    Какие дополнительные условия накладываются на построение тестов с использованием итеративной комбинационной схемы?

    перейти к ответу ->>

    Алфавиты какой значности используются для построения тестов для последовательностных схем?

    перейти к ответу ->>

    Как могут отличаться пары состояний исправной и неисправной схем при кратной стратегии?

    перейти к ответу ->>

    От каких переменных зависят логические выражения в символьном моделировании?

    перейти к ответу ->>

    Чем определяется число столбцов в особи?

    перейти к ответу ->>

    Какие фазы имеет процесс реализации эволюционного алгоритма генерации теста?

    перейти к ответу ->>

    Какие символы присваиваются линиям схемы в структурной импликации?

    перейти к ответу ->>

    Какое значение принимает выход z логического вентиля НЕ-ИЛИ z=\overline {x \vee y} в 5-значном алфавите E_5=\{0,1,E,H,u\} при значениях входов x=H,  y=0?

    перейти к ответу ->>

    В табл.
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию h с параметром P, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна r битам.Решить задачу при значении Р =  5 и r = 3.

    перейти к ответу ->>

    Логическое состязание обусловлено свойствами?

    перейти к ответу ->>

    Как моделируется замыкание двух линий в КМОП-логике?

    перейти к ответу ->>

    Определите методом различающей функции, какой набор явля-ется тестом для неисправности х_{4}\equiv 1 приведенной схемы?

    перейти к ответу ->>

    Какие формулы верны?

    перейти к ответу ->>

    Вычислить и выписать значения перечисленных в условиях задачи функций счета в указанном выше порядке для последовательности R= 11010101110

    перейти к ответу ->>

    Что применяется в проектировании цифровых устройств в поведенческой области на логическом уровне?

    перейти к ответу ->>

    Какой логический элемент моделирует приведенная функциональная модель
    если x1= 1, то y = 1;если x2= 1, то y = 1;если x3= 1, то y = 1;иначе y = 0

    перейти к ответу ->>

    Какое соотношение между дефектом и неисправностью?

    перейти к ответу ->>

    Какие конструкции используются в неисправностях ЯРП?

    перейти к ответу ->>

    Какое булево уравнение необходимо решить для построения теста?

    перейти к ответу ->>

    Какой физический смысл символа \varnothing в 6-значнгом алфавите T_{6}=\{\varnothing ,0,1,D,D',u\}?

    перейти к ответу ->>

    К чему сводится прямая логическая импликация?

    перейти к ответу ->>

    Что необходимо определить для решения задачи с помощью генетического алгоритма?

    перейти к ответу ->>

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1,f_2,\ldots,f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.3) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in  [0,2^r],представленного в двоичном виде.Решить задачу при значении Р = 5 и r = 3.

    перейти к ответу ->>

    В таблице
    НеисправностьРеакции ДУ на тест
    f_1101100110011101
    f_2101110111001110
    f_3101100110011100
    f_4101001011001110
    f_5101100110010001
    f_6101101110011101
    f_7101110110011001
    f_8100101110010111
    представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества F={f_1, f_2,…, f_8}, на некоторый тест. С помощью хеш-функции h с параметром P, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.4) (см. лекцию 34), построить таблицу r-разрядных сверток реакций ДУ.Напомним, что в формуле (34.4) h_i представляет собой r-разрядноесодержимое сдвигового регистра, причем в качестве h_0 берется нулевое состояние регистра, а c_0,c_1,\ldots,c_{r-1} являются разрядами целого числа Р\in [0,2^r],представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу r бит выходной реакции ДУ.Решить задачу при значении Р =  5 и r = 5.

    перейти к ответу ->>

    Какой код соответствует символу F1?

    перейти к ответу ->>

    Какие кубы из приведенных ниже являются 1-кубами вентиля c=a\&b?

    перейти к ответу ->>

    Для чего нужны теоретико-множественные формулы?

    перейти к ответу ->>

    На рисунке представлены временные диаграммы логического моделирования для вентиля И C=A&B. Какая модель задержки элемента использовалась при моделировании и с какими параметрами?

    перейти к ответу ->>

    Для какого вентиля куб 0^*0^*1^* (abс) является критическим?

    перейти к ответу ->>

    Чему соответствует переход от структурной к физической области на диаграмме Гайского-Кана?

    перейти к ответу ->>

    На каких этапах проводится тестирование?

    перейти к ответу ->>

    Какое правило распространения неисправностей для вентиля f=a\&b\&c при значениях входов a=1, b=1, c=0 ?

    перейти к ответу ->>

    Чем отличается конкурентный метод от дедуктивного?

    перейти к ответу ->>

    На 6-значный алфавит D_{6}=\{0,1,F0,F1,D,D'\}.Какое значение на выходе вентиля И, если его входы имеют значения D_{6  } D и F0.

    перейти к ответу ->>

    Сколько входных наборов генерирует алгоритм критиче-ских путей для каждого выхода схемы?

    перейти к ответу ->>

    Какие виды импликации применяются при построении теста 16-значном алфавите?

    перейти к ответу ->>

    К чему сводятся решение задач с использованием бинарных диаграмм?

    перейти к ответу ->>

    Какое условие окончания генерации теста при использовании конъюнктивной формы различающей функции?

    перейти к ответу ->>

    Какие основные черты методов логического моделирования?

    перейти к ответу ->>

    Какое определение различающей функции верно?

    перейти к ответу ->>

    Какие недостатки интерпретативной модели?

    перейти к ответу ->>

    Пусть сложная функция описывает функционирование ЦУ, изображенного на приведенном рисунке. Требуется вычислить синдром этой функции, если в реализующей ее схеме участвуют различные типы элементов C_1n_1входами), C_2n_2входами) и элемента C(с двумя входами). Вычислить синдром сложной функции, если C_1есть элемент И с двумя входами, C_2есть элемент ИЛИ с тремя входами, Cесть элемент М2.

    перейти к ответу ->>

    Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена на рисунке, помещенном ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество Fвозможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы \pi_1=0000,\pi_2=0001,\pi_3=0010,\ldots,\pi_{15}=1111 Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
    \pi_0\pi_1\pi_2\pi_3\pi_4\pi_5\pi_6\pi_7\pi_8\pi_9\pi_{10}\pi_{11}\pi_{12}\pi_{13}\pi_{14}\pi_{15}
    00000001010101010000000111111101
    Требуется построить таблицу ТФН. В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество F=\{ f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}Требуется построить таблицу Т-ТФН. В качестве теста использовать последовательность \pi_{11}, \pi_{12}

    перейти к ответу ->>

    Какая модель применяется для моделирования транзисторов на переключательном уровне?

    перейти к ответу ->>

    Как строится комбинационный эквивалент?

    перейти к ответу ->>

    Что дает использование алфавитов повышенной значности?

    перейти к ответу ->>

    Какие данные используются при вычислении значений фитнесс-функции при построении тестов?

    перейти к ответу ->>

    На вход сигнатурного анализатора (СА), схема которого представлена на приведенном рисунке, подается бинарная входная последовательность \varphi(x) Требуется определить сигнатуру последовательности \varphi(x), т.е. содержимое сдвигового регистра (S_3,S_2,S_1), после подачи \varphi(x)на вход СА. Предполагается, что начальное состояние СА нулевое.Определить сигнатуру для последовательности \varphi(x) = 1011010

    перейти к ответу ->>

    Какие машинные модели схемы ис-пользуются в логическом моделировании?

    перейти к ответу ->>